[发明专利]一种GIS局部放电光学特高频联合检测方法有效
申请号: | 201610930754.6 | 申请日: | 2016-10-31 |
公开(公告)号: | CN106569105B | 公开(公告)日: | 2019-07-26 |
发明(设计)人: | 吴旭涛;朱洪波;马云龙;李秀广;郭飞;马奎;郝金鹏;刘世涛;马波;李军浩;张亮;丁培;常彬;李大卫;何宁辉;周秀 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;国网宁夏电力公司电力科学研究院;国网宁夏电力公司;西安交通大学;国网冀北电力有限公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 广州市一新专利商标事务所有限公司 44220 | 代理人: | 张芳 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种GIS局部放电光学特高频联合检测方法。其特点是,包括如下步骤:1)将光电倍增管放置在GIS的观察窗处;2)将外置式特高频传感器放置在紧邻步骤1)所述的观察窗的盆式绝缘子处;3)通过步骤1)的光电倍增管和步骤2)的外置式特高频传感器两者同时进行检测,根据检测结果判定局部放电是否发生在观察窗所在气室。经过试用证明,本发明的检测方法充分发挥了光学检测抗干扰性能强,特高频检测范围广的优点,可实现GIS局部放电的准确现场检测。 | ||
搜索关键词: | 局部放电 观察窗 特高频 特高频传感器 光电倍增管 联合检测 外置式 检测 抗干扰性能 盆式绝缘子 光学检测 检测结果 现场检测 气室 判定 | ||
【主权项】:
1.一种GIS局部放电光学特高频联合检测方法,其特征在于,包括如下步骤:1)将光电倍增管放置在GIS的观察窗处;2)将外置式特高频传感器放置在紧邻步骤1)所述的观察窗的盆式绝缘子处;3)通过步骤1)的光电倍增管和步骤2)的外置式特高频传感器两者同时进行检测,根据检测结果判定局部放电是否发生在观察窗所在气室,具体是:当两者均有信号时,判定局部放电源位于步骤1)的观察窗所在的气室;当光学检测无信号,但特高频检测有信号时,判定局部放电源位于观察窗所在气室之外;当光学检测有信号,但特高频检测无信号时,判定局部放电源位于观察窗所在气室,并且其放电类型为沿面等对特高频不灵敏的缺陷类型;当两者均无信号时,判定检测不到有效的局部放电信号,即局部放电信号幅值低于检测阈值。
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