[发明专利]暗室多波面控制器测试系统、方法及装置有效
| 申请号： | 201610930974.9 | 申请日： | 2016-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN106788791B | 公开（公告）日： | 2020-06-26 |
| 发明（设计）人： | 李雨翔;张志华 | 申请（专利权）人： | 北京中科国技信息系统有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10;H04B17/20;H04B7/0413 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 韩建伟;张永明 |
| 地址： | 100097 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种暗室多波面控制器测试系统、方法及装置。其中，该测试系统包括：多个波面控制器，其中，波面控制器包括：可编程N路功分器，用于将波面控制器分成N路信道，每路信道包括：天线探头，用于发生探测信号，其中，探测信号经待测设备反射形成测试信号；可编程相位控制器，用于对测试信号进行相位控制；可编程幅度控制器，用于对测试信号进行幅度控制。本发明解决了相关技术中暗室多探头法无法满足大尺寸的基站多天线以及大规模阵列多天线的测试需求的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 暗室 多波面 控制器 测试 系统 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种暗室多波面控制器测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：多个波面控制器，其中，所述波面控制器包括：可编程N路功分器，用于将所述波面控制器分成N路信道，每路信道包括：天线探头，用于发生探测信号，其中，所述探测信号经待测设备反射形成测试信号；可编程相位控制器，用于对所述测试信号进行相位控制；可编程幅度控制器，用于对所述测试信号进行幅度控制。
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