[发明专利]一种TFT液晶玻璃基板维氏硬度的测定方法在审
| 申请号： | 201610931835.8 | 申请日： | 2016-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN106370536A | 公开（公告）日： | 2017-02-01 |
| 发明（设计）人： | 刘文渊;李福庆;杨忠杰;付冬伟;张丹;闫雪锋 | 申请（专利权）人： | 郑州旭飞光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/40 | 分类号： | G01N3/40;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)11447 | 代理人： | 耿超,王浩然 |
| 地址： | 450016 河南省郑*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种TFT液晶玻璃基板维氏硬度的测定方法，其中，该测定方法包括以下步骤a、将TFT液晶玻璃基板裁剪为边长为10mm‑25mm的方形玻璃片；b、用维氏硬度计对步骤a得到的玻璃片进行多次维氏硬度测量，测量次数用n代表，得到表面带有n个压痕的玻璃片；c、对步骤b得到的玻璃片表面的n个压痕涂覆导电膜，得到在压痕处表面覆盖有导电膜的玻璃片；d、用电子显微镜观测步骤c得到的玻璃片中n个压痕中每个压痕的两条对角线的长度，通过对角线长度计算玻璃基板的维氏硬度。本公开的方法能够准确测量液晶玻璃基板的维氏硬度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 tft 液晶 玻璃 基板维氏 硬度 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种TFT液晶玻璃基板维氏硬度的测定方法，其中，该测定方法包括以下步骤：a、将TFT液晶玻璃基板裁剪为边长为10mm‑25mm的方形玻璃片；b、按照测量负荷为m克以及保压时间为15s‑30s，m为200g，用维氏硬度计对步骤a得到的玻璃片进行多次维氏硬度测量，测量次数用n代表，n为5、6、7、8、9或10，得到表面带有n个四边形压痕的玻璃片；c、对步骤b得到的玻璃片表面的n个压痕涂覆导电膜，得到在压痕处表面覆盖有导电膜的玻璃片；d、用电子显微镜观测步骤c得到的玻璃片中n个压痕中每个压痕的两条对角线的长度，分别得到n组对角线长度，分别记为n(D1)和n(D2)，按照下式计算对角线长度的平均值，其中，D的单位为微米，D＝[1(D1)+1(D2)+2(D1)+2(D2)+……+n(D1)+n(D2)]/2n；e、按照下式计算TFT液晶玻璃基板的维氏硬度，D的单位为微米，维氏硬度＝(1854×m)/D2。
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