[发明专利]一种气体中颗粒物排放浓度测量方法及系统有效
| 申请号： | 201610933977.8 | 申请日： | 2016-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN106442248B | 公开（公告）日： | 2019-08-09 |
| 发明（设计）人： | 彭先德;向勇 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06;G01N15/02 |
| 代理公司： | 成都玖和知识产权代理事务所(普通合伙) 51238 | 代理人： | 黎祖琴 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及环境监测领域，特别涉及一种气体中颗粒物排放浓度测量方法及系统，本发明提供的一种气体中颗粒物排放浓度测量方法，包括步骤S1，采集不同气体排放环境下的多组标准样品，并选定一基准颗粒物及至少一待测颗粒物，建立对应排放环境下所述标准样品中所述基准颗粒物与所述待测颗粒物的浓度之间的对应关系；步骤S2，测量对应气体排放环境下的待测样品中所述基准颗粒物的浓度，及依据所述对应关系获得所述待测颗粒物的浓度。本发明还提供了一种气体中颗粒物排放浓度测量系统，该测量系统基于上述测量方法的原理。本发明的气体中颗粒物排放浓度测量方法及系统具有准确性较高且测量过程简单的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 气体 颗粒 排放 浓度 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种气体中颗粒物排放浓度测量方法，其特征在于：步骤S1，采集不同气体排放环境下的多组标准样品，并选定一基准颗粒物及至少一待测颗粒物，建立对应排放环境下所述标准样品中所述基准颗粒物与所述待测颗粒物的浓度之间的对应关系；步骤S2，测量对应气体排放环境下的待测样品中所述基准颗粒物的浓度，及依据所述对应关系获得所述待测颗粒物的浓度，所述步骤S1具体为：步骤T101，获取多组所述标准样品中所述基准颗粒物及所述待测颗粒物对应的粒径分布关系；步骤T102，测量获得所述标准样品中所述基准颗粒物的浓度，及依据所述粒径分布关系建立所述标准样品中所述基准颗粒物与所述待测颗粒物的浓度之间的对应关系，上述步骤T102具体为：所述粒径分布关系用所述标准样品中所述基准颗粒物及所述待测颗粒物的质量百分比表示，在所述标准样品中，所述基准颗粒物与所述待测颗粒物的浓度之间的对应关系表示为：M2＝M1×(P2/P1)其中，P1为所述标准样品中所述基准颗粒物的质量百分比、P2为所述标准样品中所述待测颗粒物的质量百分比，M1为所述基准颗粒物的浓度值，M2为所述待测颗粒物的浓度值。
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