[发明专利]鳍式场效应晶体管及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201610935251.8 申请日: 2016-11-01
公开(公告)号: CN108022965B 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 邓浩 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/423;H01L21/336;H01L29/78
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 高静;吴敏
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种鳍式场效应晶体管及其形成方法,形成方法包括:形成衬底以及位于衬底上呈阵列式排布的多个鳍部,鳍部延伸方向为第一方向,垂直于鳍部延伸方向的为第二方向;在鳍部之间形成隔离材料层,位于第一方向鳍部之间的隔离材料层为隔离层;在隔离层上形成具有第一开口的紫外吸收层;通过紫外硬化处理硬化第一开口底部露出的隔离层,形成初始台阶层;去除紫外吸收层;回刻隔离材料层形成隔离结构,回刻隔离材料层的过程中减薄初始台阶层形成台阶层;在鳍部上形成栅极结构,所述栅极结构横跨鳍部并覆盖鳍部部分顶部和侧壁表面,在形成栅极结构的过程中,在所述台阶层上形成伪栅结构。本发明提供的技术方案,提高了晶体管的性能。
搜索关键词: 场效应 晶体管 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种鳍式场效应晶体管的形成方法,其特征在于,包括:形成衬底,所述衬底上具有呈阵列式排布的多个鳍部,鳍部延伸方向为第一方向,垂直于鳍部延伸方向的为第二方向;在所述第一方向的鳍部之间、以及第二方向的鳍部之间形成隔离材料层,位于第一方向鳍部之间的隔离材料层为隔离层;在所述隔离层上形成具有第一开口的紫外吸收层,所述第一开口露出隔离层的顶部表面;通过紫外硬化处理硬化第一开口底部露出的隔离层,形成初始台阶层;去除所述紫外吸收层;回刻所述隔离材料层形成隔离结构,所述隔离结构露出所述鳍部的部分侧壁表面,回刻所述隔离材料层的过程中减薄所述初始台阶层形成台阶层,且回刻步骤对所述隔离材料层的去除速率大于对所述初始台阶层的去除速率;在所述鳍部上形成栅极结构,所述栅极结构横跨所述鳍部并覆盖所述鳍部部分顶部和侧壁表面,在形成所述栅极结构的过程中,在所述台阶层上形成伪栅结构。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610935251.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top