[发明专利]一种流式细胞系统荧光寿命高斯拟合测量方法

摘要

本发明提供了一种流式细胞系统荧光寿命高斯拟合测量方法，所述方法包括以下步骤：1)利用时间微元法求出瞬时散射光强度和荧光信号强度，2)利用卷积法对峰值位置的变化进行分析，3)利用高斯拟合对散射光信号与荧光信号进行表示，得到的脉冲信号进行高斯拟合。

主权项

1.一种流式细胞系统荧光寿命高斯拟合测量方法，所述方法包括以下步骤：1)利用时间微元法求出瞬时散射光强度和荧光信号强度，由以下公式得出t时刻散射光强度：其中，R为荧光微球的半径，dx为微元的宽度，x为微元距位置原点的距离，fs(t)为t时刻散射光强度，v为荧光微球的流速，L为激发光斑短轴长度，σ为标准差；由以下公式得出t时刻荧光信号强度：其中，τ为衰减周期，fl(t)为t时刻荧光信号强度，δ为衰减幅度，t‑nτ为衰减时间，n为荧光微球分成径向等宽度的微元的数量；2)利用卷积法对峰值位置的变化进行分析：3)利用高斯拟合对散射光信号与荧光信号进行表示，得到的脉冲信号进行高斯拟合；其中对拟合结果的评价指标为：均方根误差：RMSE(root‑mean‑square‑error)Xobs，i表示原始数据，Xmodel，i表示预测数据；n为样本数；确定系数：R‑squareSSE预测数据与原始数据的误差平方和；预测数据与原始数据均值之差的平方和SSR；表示原始数据的均值；n为样本数；原始数据和均值之差的平方和SST；n为样本数。