[发明专利]基于高光谱成像技术的苹果内外品质快速无损检测方法

摘要

本发明提供的基于高光谱成像技术的苹果内外品质的快速无损检测方法，利用高光谱成像系统采集苹果图谱信息，分析苹果光谱曲线的特征，并对光谱数据进行分析。然后，确定单波段图像，对其进行二次阈值分割，提取相应区域，并提取相应区域的光谱曲线。针对病害、虫害等苹果外部特征，提出二次连续投影算法以提取特征波长集SP1；针对糖度、硬度等苹果内部品质提出多参数连续投影算法以提取特征波长集SP2。最后融合反应苹果内外品质的特征波长集SP1、SP2采用BP神经网络实现对苹果内外品质的快速、无损检测。本发明操作简单方便、检测速度快、检测结果精度高，而且对苹果没有损伤。