[发明专利]用于布局相关变动分析的系统在审
| 申请号： | 201610938699.5 | 申请日： | 2016-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN107016146A | 公开（公告）日： | 2017-08-04 |
| 发明（设计）人： | 郭晋诚;胡伟毅;王光明 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 南京正联知识产权代理有限公司32243 | 代理人： | 顾伯兴 |
| 地址： | 中国台湾新竹科*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种方法，所述方法包括通过应用第一变动来实行第一模拟，以识别集成电路(IC)的至少一个样本，其中所述集成电路包括至少一个装置；将实作所述至少一个装置的分离装置的单独的变量转译成所述分离装置的等效变量；以及利用所述分离装置的所述等效变量、通过应用第二变动的至少一部分来实行第二模拟，以获得模拟结果，所述模拟结果充当对用于制作所述集成电路的布局进行修改的基础。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 布局 相关 变动 分析 系统 | ||
【主权项】：
一种用于布局相关变动分析的系统，其特征在于，包括：处理器；存储装置，存储计算机程序码，所述计算机程序码由所述处理器执行以实行以下中的至少一者：通过应用前段变动来实行第一模拟以获得第一模拟结果，其中所述第一模拟结果指示集成电路的至少一个样本，且所述集成电路具有至少一个装置；通过应用布局相关变动中的一或多个布局相关变动来将所述至少一个装置分离成所述集成电路的所述至少一个样本的布局中的多个分离装置，其中所述分离装置具有单独的变量；在第二模拟中将所述单独的变量转译成所述分离装置的等效变量；以及在所述第二模拟中重新检查所述集成电路的所述至少一个样本。
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