[发明专利]一种基于p‑i‑n结构的QLED器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201610939765.0 申请日: 2016-10-25
公开(公告)号: CN106549109A 公开(公告)日: 2017-03-29
发明(设计)人: 钱磊;杨一行;曹蔚然;向超宇;陈崧 申请(专利权)人: TCL集团股份有限公司
主分类号: H01L51/50 分类号: H01L51/50;H01L33/06
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)44268 代理人: 王永文,刘文求
地址: 516006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种基于p‑i‑n结构的QLED器件及其制备方法,包括衬底、底电极、空穴传输层、电子阻挡层、量子点发光层、空穴阻挡层、电子传输层以及顶电极,其中,本发明一方面通过以p型材料作为空穴传输层以及以n型材料作为电子传输层,来降低QLED器件的驱动电压,从而有效减少斯塔克效应对量子点发光的猝灭;另一方面,通过在量子点发光层中引入本征基质材料来降低量子点之间的交叉弛豫,增强辐射复合几率,同时还可以有效俘获注入的电子和空穴以提高电流效率,从而提高器件的发光效率以及增加器件的使用寿命和稳定性。
搜索关键词: 一种 基于 结构 qled 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
一种基于 p‑i‑n结构的QLED器件,包括衬底、底电极、空穴传输层、电子阻挡层、量子点发光层、空穴阻挡层、电子传输层以及顶电极,其特征在于,所述空穴传输层为p型材料,所述电子传输层为n型材料,所述量子点发光层包括量子点材料和基质材料。
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