[发明专利]阵列基板和阵列基板的测试方法、显示装置在审
| 申请号： | 201610946156.8 | 申请日： | 2016-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN106405965A | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 包珊珊;韩约白;金鑫鑫;白晓鹏;赵普查;赵锦 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
| 主分类号： | G02F1/1362 | 分类号： | G02F1/1362;G02F1/13;G09F9/00 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人： | 罗瑞芝,陈源 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于显示技术领域，具体涉及一种阵列基板和阵列基板的测试方法、显示装置。该阵列基板包括至少两个间隔设置的测试点，其中两个所述测试点之间连接设置有接触感应器件，所述接触感应器件能在该两个所述测试点的任一个外加激励信号的作用下发生感应，并在另一个所述测试点上产生反馈信号，以便于根据另一个所述测试点的反馈信号判定探针是否与所述测试点有效接触。该阵列基板及其相应的测试方法能有效避免测试过程中由于用于信号输入的探针脱针或漏针造成设备误检的情况，方便、准确的识别脱针或漏针。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 方法 显示装置 | ||
【主权项】：
一种阵列基板，包括至少两个间隔设置的测试点，其特征在于，其中两个所述测试点之间连接设置有接触感应器件，所述接触感应器件能在该两个所述测试点的任一个外加激励信号的作用下发生感应，并在另一个所述测试点上产生反馈信号，以便于根据另一个所述测试点的反馈信号判定探针是否与所述测试点有效接触。
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