[发明专利]一种PCIE设备可靠性的加速检测方法在审
| 申请号： | 201610946650.4 | 申请日： | 2016-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN106452968A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 刘涛 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26;G06F13/40 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司37100 | 代理人： | 张靖 |
| 地址： | 450000 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种PCIE设备可靠性的加速检测方法，所述方法通过建立PCIE可靠性测试控制单元，实现PCIE设备数据的发送与设备状态控制，待测PCIE设备直连安装于该PCIE可靠性测试控制单元上，所述PCIE可靠性测试控制单元的PCIE数据总线直接连接至待测PCIE设备上，同时所述PCIE可靠性测试控制单元直接控制待测PCIE设备的复位reset信号，实现硬复位控制权限，通过采用多组高强度、高频次的集中式快速强化功能单项测试，将PCIE设备的潜在隐患快速抓取出来。本发明方法可以很方便的实现PCIE设备可靠性的加速检测，不仅达到了可靠性要求，而且实现高性能要求，实现服务器系统的可靠性、稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pcie 设备 可靠性 加速 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种PCIE设备可靠性的加速检测方法，其特征在于，所述方法通过建立PCIE可靠性测试控制单元，实现PCIE设备数据的发送与设备状态控制，待测PCIE设备直连安装于该PCIE可靠性测试控制单元上，所述PCIE可靠性测试控制单元的PCIE数据总线直接连接至待测PCIE设备上，同时所述PCIE可靠性测试控制单元直接控制待测PCIE设备的复位reset信号，实现硬复位控制权限，通过采用多组高强度、高频次的集中式快速强化功能单项测试，将PCIE设备的潜在隐患快速抓取出来。
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