[发明专利]检测RIPEMD‑160算法抵御差分故障攻击的方法在审

专利信息
申请号: 201610949796.4 申请日: 2016-11-02
公开(公告)号: CN106411496A 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 李玮;廖林峰;周志洪;葛晨雨;高志勇;石秀金;夏小玲;曹奇英 申请(专利权)人: 东华大学
主分类号: H04L9/00 分类号: H04L9/00;H04L12/24
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司31001 代理人: 翁若莹,柏子雵
地址: 200050 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种检测RIPEMD‑160算法抵御差分故障攻击的方法,首先利用RIPEMD‑160对某一输入消息进行处理;在处理消息阶段对执行环境实施两种控制,一种是要控制处理过程准确无误地运行,并记录其输出结果为Y,另一种则是要保证处理消息相同的前提下,在处理过程中人为地导入故障,诱导其产生错误的输出结果,并记为Y*;通过计算Y与Y*的差分值,来测评RIPEMD‑160对差分故障攻击的抵御能力,如果检测到有故障发生,能够推导出故障发生的位置,并进一步判断出该故障位置的有效性。本发明提供的方法具有简单、快速、准确且易于实现等特点,对检测RIPEMD‑160算法抵御差分故障攻击的能力提供了良好的分析依据。
搜索关键词: 检测 ripemd 160 算法 抵御 故障 攻击 方法
【主权项】:
一种检测RIPEMD‑160算法抵御差分故障攻击的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:随机生成要处理的明文消息X;步骤2:利用RIPEMD‑160算法处理明文消息X,RIPEMD‑160算法对消息按512比特长的分组为单位进行处理,总共由5轮运算组成,每一轮都对缓存区进行16步迭代运算,输出为160比特的杂凑值,将得到的正确输出Y和错误输出Y*保存于160比特的缓存区中,其中,缓存区用5个32比特长的寄存器A,B,C,D,E表示;步骤3:计算正确输出Y和错误输出Y*的差分值ΔY,令ΔY=(ΔY0,ΔY1,ΔY2,ΔY3,ΔY4),保存于5个32比特长的寄存器A,B,C,D,E表示的缓存区中,ΔY0,ΔY1,ΔY2,ΔY3,和ΔY4均为32比特,分别代表缓存区中最后一轮输出结果的差分;步骤4:分析差分值ΔY,判断RIPEMD‑160算法是否受到差分故障攻击的影响,并推导出故障导入的位置,分析其有效性,令Ai,Bi,Ci,Di,Ei分别为第i步迭代运算缓存区的寄存器A,B,C,D,E中的值,i∈[1,80],则具体方法为:(1)有效故障:I)当ΔY0、ΔY1、ΔY2、ΔY3≠0时,故障导入的位置为C77;11)当ΔY1、ΔY2、ΔY3、ΔY4≠0时,故障导入的位置为B77;III)当ΔY0、ΔY1、ΔY2、ΔY3、ΔY4中均不为0时,故障导入的位置为B76以及B76之前的任何位置;(2)无效故障:I)当ΔY=0时,说明导入的故障值等于当前位置上的原值,相当于没有导入故障,故障无效;II)当ΔY≠0时:(i)当ΔY0、ΔY1、ΔY2、ΔY3、ΔY4中有且仅有一个不为0时:a)当ΔY0≠0时,故障导入的位置为A80;b)当ΔY1≠0时,故障导入的位置为B80或E80;c)当ΔY2≠0时,故障导入的位置为C80;d)当ΔY3≠0时,故障导入的位置为D80;e)当ΔY4≠0时,故障导入的位置为E80。(ii)当ΔY0、ΔY1、ΔY2、ΔY3、ΔY4中只有两个同时不为0时,a)当ΔY1≠0且ΔY0≠0时,故障导入的位置为E79;b)当ΔY1≠0且ΔY2≠0时,故障导入的位置为B79;c)当ΔY1≠0且ΔY3≠0时,故障导入的位置为C79;d)当ΔY1≠0且ΔY4≠0时,故障导入的位置为D79;(iii)当ΔY0、ΔY1、ΔY2、ΔY3、ΔY4中只有三个同时不为0时,a)当ΔY0、ΔY1、ΔY2≠0时,故障导入的位置为D78;b)当ΔY1、ΔY2、ΔY3≠0时,故障导入的位置为B78;c)当ΔY1、ΔY2、ΔY4≠0时,故障导入的位置为C78。
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