[发明专利]用于对试样进行光热研究的方法和设备

摘要

本发明提出一种用于对试样进行光热研究的方法，包括以电磁的激励脉冲照射样品的第一侧面；检测由于激励脉冲而从试样的与第一侧面相对的第二侧面发出的热辐射；基于通过下列方程式定义的模型评估检测的热辐射对于0<x<L,t>0对于x＝0,t>0对于x＝L,t>0T(x,0)＝0，对于t＝0其中，进行数学平差计算，以便根据由检测的热辐射确定的在试样的第二侧面上的温度T(L,t)在时间上的变化曲线估算模型的上述参数α、k、h、η'。

主权项

用于对试样(P)进行光热研究的方法，包括以下步骤：a)以电磁的激励脉冲(18)照射所述试样(P)的第一侧面(16)，b)检测由于所述激励脉冲(18)而从所述试样(P)的与所述第一侧面(16)相对的第二侧面(24)发出的热辐射(26)，c)基于通过下列方程式定义的模型评估检测的所述热辐射(26)：对于0＜x＜L，t＞0对于x＝0，t＞0对于x＝L，t＞0T(x，0)＝0，对于t＝0其中，T表示所述试样的与位置和时间相关的温度；L表示所述试样的厚度；x表示在所述试样的厚度方向上看的位置坐标，在所述试样的第一侧面上具有x＝0并且在所述试样的第二侧面上具有x＝L；t表示时间，在所述激励脉冲的时间点上t＝0；E(t)表示所述激励脉冲的与时间相关的辐射流密度；α表示所述试样的导温率；k表示所述试样的热导率；h表示在所述试样表面上的传热系数；η′表示“总计的透明度因子”；其中，进行数学平差计算，以便根据由检测的热辐射(26)确定的在所述试样(P)的第二侧面(24)上的温度T(L，t)在时间上的变化曲线，估算模型的上述参数α、k、h、η′中的一个或多个、和/或从上述参数中推导的参数h/k或L×h/k。