[发明专利]付立叶变换光测高温仪有效

专利信息
申请号: 201610957776.1 申请日: 2017-01-24
公开(公告)号: CN106525246B 公开(公告)日: 2019-05-03
发明(设计)人: 吴建海;谭成章;陈贵锋;孔祥明;由希雨 申请(专利权)人: 河北工业大学
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 万尾甜;韩介梅
地址: 300401 天津*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种付立叶变换光测高温仪,该光测高温仪包括照相镜头、平面一维反射光栅、离轴抛物凹面镜、一维线阵CCD器件;光测高温仪的照像镜头带有有效光阑,待测高温体的成像经平面一维反射光栅调制为正负一级色散频谱,再经离轴抛物凹面镜聚焦于一维线阵CCD器件上,经灵敏度补正后得到待测高温体的发射光谱分布曲线;该测温仪采用付立叶变换光谱,所采集的光能量信号将强过狭缝光谱仪百倍以上,有利于测量提高准确度和精密度,而且光路简单,可较准确检测透明火焰、中温(1000K左右)炉膛、中温板材连轧线、晶体生长固液界面等场合的温度,并使精密度提高到1℃;准确度提高到±3℃水平。
搜索关键词: 付立叶 变换 测高
【主权项】:
1.一种付立叶变换光测高温仪,其特征在于,该付立叶变换光测高温仪包括照相镜头、平面一维反射光栅、离轴抛物凹面镜、一维线阵CCD器件;光测高温仪中的光测光路为:光测高温仪的照像镜头带有有效光阑,在照像镜头后焦面设有平面一维反射光栅,待测高温体的成像经平面一维反射光栅调制为正负一级色散频谱,再经离轴抛物凹面镜聚焦于一维线阵CCD器件上,一维线阵CCD器件连接pc机或灵敏度补正硬件经灵敏度补正后输出被测高温体的发射光谱分布曲线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河北工业大学,未经河北工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610957776.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top