[发明专利]集成电路芯片有效
| 申请号： | 201610959582.5 | 申请日： | 2016-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN106546908B | 公开（公告）日： | 2019-05-21 |
| 发明（设计）人： | 谢小东;杨祎;任子木 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06Q30/00 |
| 代理公司： | 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 | 代理人： | 刘勋 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 集成电路芯片和集成电路芯片防伪检测方法，涉及集成电路技术。本发明的集成电路芯片电路还包括：反熔丝存储器，用于存储集成电路芯片的身份信息；加密模块，用于在加密算法下对激励产生响应信号，所述加密算法系以集成电路芯片的身份信息为秘钥；寿命传感器，与集成电路芯片电路连接，用于检测集成电路芯片的已用时间；输出模块，用于输出加密模块的响应信号或寿命传感器的输出信号；所述加密模块与反熔丝存储器连接，还与输出模块连接，所述输出模块还与寿命传感器连接。本发明能准确的识别假劣芯片，解决克隆/伪造/回收再利用等伪劣芯片泛滥的问题，提高芯片的正品率。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 芯片 防伪 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.集成电路芯片，包括集成电路芯片电路，其特征在于，还包括：反熔丝存储器，用于存储集成电路芯片的身份信息；加密模块，用于在加密算法下对激励产生响应信号，所述加密算法系以集成电路芯片的身份信息为秘钥；寿命传感器，与集成电路芯片电路连接，用于检测集成电路芯片的已用时间；输出模块，用于输出加密模块的响应信号或寿命传感器的输出信号；所述加密模块与反熔丝存储器连接，还与输出模块连接，所述输出模块还与寿命传感器连接。
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