[发明专利]一种可穿越涂层测量工件厚度的方法及其装置在审
申请号: | 201610959869.8 | 申请日: | 2016-11-03 |
公开(公告)号: | CN106441177A | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 刘时风;孙勇;李赫 | 申请(专利权)人: | 北京声华兴业科技有限公司 |
主分类号: | G01B17/02 | 分类号: | G01B17/02 |
代理公司: | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司11471 | 代理人: | 周宇 |
地址: | 100012 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种可穿越涂层测量工件厚度的方法及其装置,在测试带有涂层的工件厚度时,将测厚仪探头直接耦合在工件表面,探头发射通道发出超声波脉冲,到达涂层与工件界面后少部分超声波会在涂层内部发生反射,大部分超声波会穿过涂层到达工件内部,在工件内部发生多次反射,探头接收通道可以接收到各个反射的回波,根据计算回波的到达时间差最终推算得到待测工件的厚度;该测厚装置,包括测厚探头以及测厚主机,测厚主机包括信号发射模块、信号接收模块、信号处理模块、处理器模块、键盘和显示模块、存储模块和供电模块。在测试带有涂层的工件时,无需清除表面涂层即可直接测量工件厚度,大幅提高测试效率的同时避免了测试区域涂层的破坏。 | ||
搜索关键词: | 一种 穿越 涂层 测量 工件 厚度 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
一种可穿越涂层测量工件厚度的方法,其特征在于:步骤如下a.将测量装置的探头(1)耦合在待测工件表面;b.测量装置产生超声波脉冲信号,超声波脉冲信号经探头(1)以一定角度发射到待测工件表面,超声波脉冲信号在涂层与待测工件本体交界面少部分信号发生反射,涂层内反射信号(5)被探头(1)接收,并记录收信号到时间t0;c.大部分超声波脉冲信号进入待测工件本体内部,并在待测工件本体底部进行反射,反射信号(3)经过涂层被探头(1)接收,并记录收到信号的时间t1;d.在步骤c中,超声波脉冲信号在经过待测工件本体与涂层交界面时会有少部分信号进行反射,反射信号(3)在待测工件底部进行二次反射,二次反射信号(4)经过涂层被探头1接收,并记录收到信号的时间t2;f.如果超声波在待测工件本体内部的速度已知为v1,则工件的厚度g.如果超声波在待测工件本体内部的速度未知,则通过在标准件上测出速度v1,然后代入上步骤f计算得出d1。
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