[发明专利]1064nm硅基雪崩探测器及其制作方法在审
申请号: | 201610962410.3 | 申请日: | 2016-10-28 |
公开(公告)号: | CN106356290A | 公开(公告)日: | 2017-01-25 |
发明(设计)人: | 黄烈云;姜华男;黄建;罗春林;伍明娟;龙雨霞 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 |
主分类号: | H01L21/265 | 分类号: | H01L21/265;H01L31/107;H01L31/18 |
代理公司: | 重庆辉腾律师事务所50215 | 代理人: | 侯懋琪,侯春乐 |
地址: | 400060 重庆*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | 一种1064nm硅基雪崩探测器,所述1064nm硅基雪崩探测器包括衬底层、光敏区、雪崩区、保护环和截止环,其创新在于保护环的数量为两个,第一保护环设置在光敏区外围,光敏区的外周边沿位于第一保护环的径向中部,雪崩区与第一保护环之间留有间隔,第二保护环设置在第一保护环的外围,第二保护环和第一保护环之间留有间隔,截止环设置在第二保护环的外围,截止环和第二保护环之间留有间隔。本发明的有益技术效果是提出了一种1064nm硅基雪崩探测器及其制作方法,该探测器具备较好的抗边缘击穿能力,能在高温环境下长期稳定工作。 | ||
搜索关键词: | 1064 nm 雪崩 探测器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种1064nm硅基雪崩探测器,所述1064nm硅基雪崩探测器包括衬底层(11)、光敏区(8)、雪崩区(9)、保护环和截止环(3),所述光敏区(8)、雪崩区(9)、保护环和截止环(3)均形成在衬底层(11)上;所述保护环设置在光敏区(8)外围,所述截止环(3)设置在保护环的外围,所述雪崩区(9)形成在光敏区(8)中部,其特征在于:保护环的数量为两个,第一保护环(10)设置在光敏区(8)外围,光敏区(8)的外周边沿位于第一保护环(10)的径向中部,雪崩区(9)与第一保护环(10)之间留有间隔,第二保护环(4)设置在第一保护环(10)的外围,第二保护环(4)和第一保护环(10)之间留有间隔,截止环(3)设置在第二保护环(4)的外围,截止环(3)和第二保护环(4)之间留有间隔。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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