[发明专利]1064nm硅基雪崩探测器及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201610962410.3 申请日: 2016-10-28
公开(公告)号: CN106356290A 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 黄烈云;姜华男;黄建;罗春林;伍明娟;龙雨霞 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十四研究所
主分类号: H01L21/265 分类号: H01L21/265;H01L31/107;H01L31/18
代理公司: 重庆辉腾律师事务所50215 代理人: 侯懋琪,侯春乐
地址: 400060 重庆*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 一种1064nm硅基雪崩探测器,所述1064nm硅基雪崩探测器包括衬底层、光敏区、雪崩区、保护环和截止环,其创新在于保护环的数量为两个,第一保护环设置在光敏区外围,光敏区的外周边沿位于第一保护环的径向中部,雪崩区与第一保护环之间留有间隔,第二保护环设置在第一保护环的外围,第二保护环和第一保护环之间留有间隔,截止环设置在第二保护环的外围,截止环和第二保护环之间留有间隔。本发明的有益技术效果是提出了一种1064nm硅基雪崩探测器及其制作方法,该探测器具备较好的抗边缘击穿能力,能在高温环境下长期稳定工作。
搜索关键词: 1064 nm 雪崩 探测器 及其 制作方法
【主权项】:
一种1064nm硅基雪崩探测器,所述1064nm硅基雪崩探测器包括衬底层(11)、光敏区(8)、雪崩区(9)、保护环和截止环(3),所述光敏区(8)、雪崩区(9)、保护环和截止环(3)均形成在衬底层(11)上;所述保护环设置在光敏区(8)外围,所述截止环(3)设置在保护环的外围,所述雪崩区(9)形成在光敏区(8)中部,其特征在于:保护环的数量为两个,第一保护环(10)设置在光敏区(8)外围,光敏区(8)的外周边沿位于第一保护环(10)的径向中部,雪崩区(9)与第一保护环(10)之间留有间隔,第二保护环(4)设置在第一保护环(10)的外围,第二保护环(4)和第一保护环(10)之间留有间隔,截止环(3)设置在第二保护环(4)的外围,截止环(3)和第二保护环(4)之间留有间隔。
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