[发明专利]一种测量水稻种胚受重离子辐射照射的装置及方法有效
| 申请号： | 201610962675.3 | 申请日： | 2016-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN108020656B | 公开（公告）日： | 2019-07-09 |
| 发明（设计）人： | 张斌全;张珅毅;董永进;周大庄;袁斌;荆涛;梁金宝;孙越强 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 主分类号： | G01N33/483 | 分类号： | G01N33/483 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 王宇杨;杨青 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量水稻种胚受重离子辐射照射的装置，所述装置为一个用于水稻种子空间辐射效应研究的种子盒；所述装置从上至下依次包括上盖板(3)、核径迹探测器(4)、基体(6)和下盖板(7)，所述基体(6)为一个设有若干个椭圆孔(5)的方形槽；椭圆孔(5)为通孔，用于安装固定水稻种子(8)，所述核径迹探测器(4)安装在方形槽内；并通过上盖板(3)与下盖板(7)进行固定。基于该装置，本发明还公开了一种测量水稻种胚受重离子辐射照射的方法，能够得到种胚所受的重离子辐射的传能线密度信息。该方法的优点是可以精确得到水稻种胚处的重离子辐射，这些重离子除了能量高、射程长的重离子，还包括能量低、射程短的重离子。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 水稻 种胚受重 离子 辐射 照射 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量水稻种胚受重离子辐射照射的装置，所述装置为一个用于水稻种子空间辐射效应研究的种子盒；其特征在于，所述装置从上至下依次包括上盖板(3)、核径迹探测器(4)、基体(6)和下盖板(7)，所述基体(6)为一个设有若干个椭圆孔(5)的方形槽；椭圆孔(5)为通孔，用于安装固定水稻种子(8)，所述核径迹探测器(4)安装在方形槽内；并通过上盖板(3)与下盖板(7)进行固定；所述核径迹探测器(4)采用透明的CR‑39材料，在核径迹探测器(4)上设置3个圆形的位置标记孔，这3个位置标记孔分别分布在核径迹探测器(4)的任意3条边或3个角上。
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