[发明专利]基于平台系统的检测方法

摘要

本发明实施例涉及一种基于平台系统的检测方法,包括：将X光机平台设置在系统底板的第一导轨上；将探测器平台设置在第二导轨上；将滤波架设置于X光机平台和探测器平台之间；驱动X光机平台在第一导轨上运动至工作位置；并且，驱动探测器平台在第二导轨上运动至工作位置；调节X光机平台的位置，调整滤波架，使X光机的X光出射位置、滤波架上插接的附加滤波片中心和探测器的接收X射线位置在同一直线上；X光机产生初始X射线束；初始X射线束经过附加滤波片过滤处理，对低于第一阈值能量的射线进行滤除；探测器接收过滤后X射线束，光子沉积在探测器晶体中，通过电子学器件生成电信号，得到能谱数据；调节管电压和附加过滤获得不同的辐射质。

主权项

1.一种基于平台系统的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：将X光机平台设置在平台系统的系统底板的第一导轨上；其中，X光机平台上架设有X光机；将探测器平台设置在系统底板的第二导轨上；其中，探测器平台上架设有探测器；将滤波架设置于X光机平台和探测器平台之间，滤波架上插接有附加滤波片；控制第一电机驱动X光机平台在第一导轨上运动至工作位置；并且，控制第二电机驱动探测器平台在第二导轨上运动至工作位置；调节X光机平台的位置，调整滤波架，使X光机的X光出射位置、滤波架上插接的附加滤波片中心和探测器的接收X射线位置在同一直线上；其中，所述调节所述X光机平台的位置具体为：开启所述X光机平台上的激光校准器，发射激光；其中，所述X光机射出的X射线束与所述激光的出射方向平行；调节所述X光机平台的升降装置，使所述激光校准器发射的激光射向所述探测器平台的激光接收器；调节所述X光机平台的俯仰台和旋转台，使所述激光校准器发射的激光射至所述激光接收器的中心；所述调整所述滤波架具体为：转动所述滤波架，使所述激光校准器发射的激光射向所述滤波架；其中，所述滤波架包括支撑杆和连接部；并且，调节所述支撑杆的高度，旋转所述支撑杆的角度，使激光校准器发射的激光射向所述滤波架的预定位置，使所述X光机的X光出射位置、所述滤波架上插接的附加滤波片中心和所述探测器的接收X射线位置在同一直线上；所述俯仰台包括第一台面、第二台面和俯仰调节螺栓；所述第一台面通过所述俯仰调节螺栓架设于所述第二台面的上方；所述调节X光机平台的俯仰台具体为：旋转所述俯仰调节螺栓，使所述第一台面根据所述俯仰调节螺栓转动产生相应倾斜；X光机产生初始X射线束；初始X射线束经过附加滤波片过滤处理，对低于第一阈值能量的射线进行滤除；探测器接收过滤后X射线束，光子沉积在探测器晶体中，通过电子学器件生成电信号，得到能谱数据；其中，所述能谱数据为光子能量与光子数的对应关系；调节管电压和附加过滤获得不同的辐射质；所述辐射质包括平均能量、谱分辨率、第一半值层和同质系数；其中，所述调节管电压具体为：改变所述初始X射线束的强度和平均能量。