[发明专利]软件缺陷智能检测方法和系统在审
| 申请号： | 201610964353.2 | 申请日： | 2016-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN106528417A | 公开（公告）日： | 2017-03-22 |
| 发明（设计）人： | 高岩;杨春晖;李冬 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 周清华 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种软件缺陷智能检测方法和系统，获取样本软件模块进行预处理，得到软件样本集。对软件无缺陷样本集进行聚类处理，得到聚类子集。对聚类子集进行随机抽样，得到平衡后的软件无缺陷样本集。根据软件有缺陷样本集和平衡后的软件无缺陷样本集得到更新软件样本集。根据更新软件样本集进行训练得到缺陷检测模型。根据缺陷检测模型对待测软件模块进行缺陷预测，并输出预测结果。通过对样本软件模块进行分类，并对软件无缺陷样本集进行聚类和抽取样本，保证了样本的平衡。根据平衡后的软件无缺陷样本集训练缺陷检测模型，使缺陷预测模型能够更好的对缺陷数据进行估计和拟合，对有缺陷数据的预测能够得到明显的提升，提高了预测准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 软件 缺陷 智能 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种软件缺陷智能检测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取样本软件模块进行预处理，得到软件样本集；所述软件样本集包括软件有缺陷样本集和软件无缺陷样本集；对所述软件无缺陷样本集进行聚类处理，得到聚类子集；对所述聚类子集进行随机抽样，得到平衡后的软件无缺陷样本集；根据所述软件有缺陷样本集和所述平衡后的软件无缺陷样本集得到更新软件样本集；根据所述更新软件样本集进行训练得到缺陷检测模型；根据所述缺陷检测模型对待测软件模块进行缺陷预测，并输出预测结果。
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