[发明专利]探测器

摘要

本发明公开了一种探测器，包括：阴极板，用于入射X射线；多孔板，X射线打在工作气体上发生电离，阳离子在电场作用下向阴极板运动，电子在电场作用下向多孔板运动；阳极板，经过雪崩放大后的电子打在阳极板上；阳极板包括：第一阳极板，具有第一信号阵列；第二阳极板，具有第二信号阵列；第一ASIC芯片，当电子打在第一阳极板时，检测第一阳极板产生的第一信号；第二ASIC芯片，当电子打在第二阳极板时，检测第二阳极板产生的第二信号；电子学处理器，根据第一信号和第二信号得到电子打在第一阳极板或者第二阳极板的位置。本发明探测器利用两块不同的阳极板，实现不同精度的电子位置检测。

主权项

1.一种探测器，其特征在于，所述探测器包括：阴极板，用于入射X射线；多孔板，所述多孔板与阴极板之间容纳有工作气体，并且所述多孔板上具有通孔，所述X射线打在所述工作气体上发生电离，生成电子和阳离子；所述阴极板与所述多孔板之间具有负向电压差产生电场，所述阳离子在电场作用下向所述阴极板运动，所述电子在电场作用下向所述多孔板运动，通过所述通孔产生雪崩；阳极板，所述阳极板与所述阴极板在所述多孔板的对向设置，经过雪崩放大后的所述电子打在所述阳极板上；所述阳极板包括：第一阳极板，所述第一阳极板具有第一信号阵列；第二阳极板，所述第二阳极板的面积小于第一阳极板，并且位于所述第一阳极板内，所述第二阳极板具有第二信号阵列；第一ASIC芯片，与所述第一阳极板相连接，当电子打在所述第一阳极板时，检测所述第一阳极板产生的第一信号；第二ASIC芯片，与所述第二阳极板相连接，当电子打在所述第二阳极板时，检测所述第二阳极板产生的第二信号；电子学处理器，与所述第一ASIC芯片和第二ASIC芯片相连接，根据所述第一信号和第二信号得到电子打在所述第一阳极板或者第二阳极板的位置；所述第一信号阵列为N×M阵列，N为所述第一信号阵列行数，M为所述第一信号阵列列数；所述第二信号阵列为P×Q阵列，P为所述第二信号阵列行数，Q为所述第二信号阵列列数；所述第一信号阵列的阵列数与所述第二信号阵列的阵列数相同,均为64X64；所述电子学处理器包括现场可编程门阵列，与所述第一ASIC芯片和所述第二ASIC芯片相连接；所述工作气体为流动气体，直接由外接的气瓶供气。