[发明专利]基于电离室系统的检测方法

摘要

本发明实施例涉及一种基于电离室系统的检测方法,包括：将X光机设置于X光机平台上；将附加滤过片插接于滤过装置上；调节滤过装置，使附加滤过片中心与X光机的X光出射位置在同一水平位置；驱动第一底座在第一导轨上运动至工作位置；并且驱动第二底座在第二导轨上运动至工作位置；调节升降装置和升降装置上的旋转台，使设置于旋转台上的电离室装置的接收射线位置与附加滤过片中心、X光机的X光出射位置在同一条直线上；X光机产生初始X射线束；初始X射线束经过附加滤过片后，对低于第一阈值能量的射线进行滤除；过滤后的X射线束使电离室装置内的空气发生电离，产生电离电流；静电计对电离电流进行检测，得到电离电流值。

主权项

1.一种基于电离室系统的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：将X光机设置于X光机平台上；将附加滤过片插接于滤过装置上；调节所述滤过装置，使所述附加滤过片中心与X光机的X光出射位置在同一水平位置；控制第一电机驱动第一底座在第一导轨上运动至工作位置；并且控制第二电机驱动第二底座在第二导轨上运动至工作位置；调节升降装置和所述升降装置上的旋转台，使设置于所述旋转台上的电离室装置的接收射线位置与所述附加滤过片中心、X光机的X光出射位置在同一条直线上；其中，所述旋转台包括旋转驱动电机、固定部和旋转盘；所述旋转盘设置于所述固定部上；所述调节旋转台具体为：所述旋转驱动电机接收旋转信号，驱动所述旋转盘在所述固定部上旋转；具体的，在所述X光机平台上设有第一激光发射器，所述滤过转盘上设有第一标记位置，所述第一标记位置设置在相邻两个滤光孔中间，当所述第一激光发射器发射的激光射在所述滤过转盘的第一标记位置时，附加滤过片处于工作位，此时所述附加滤过片中心与的X光出射位置在同一水平位置；所述旋转台上设有第二激光发射器，所述滤过转盘上设有第二标记位置，当第二激光发射器发射的激光射在所述滤过转盘的第二标记位置时，附加滤过片中心与电离室装置的接收射线位置在同一水平位置，从而实现电离室装置的接收射线位置与附加滤过片中心、X光机的X光出射位置在同一条直线上；所述X光机产生初始X射线束；所述初始X射线束经过附加滤过片后，对低于第一阈值能量的射线进行滤除；所述电离室装置接收过滤后的X射线束，所述过滤后的X射线束使所述电离室装置内的空气发生电离，产生电离电流；静电计对电离电流进行检测，得到电离电流值。