[发明专利]一种基于图像处理的抛光表面检测方法及其系统有效
申请号: | 201610968488.6 | 申请日: | 2016-10-28 |
公开(公告)号: | CN106530291B | 公开(公告)日: | 2019-01-22 |
发明(设计)人: | 廖妍;朱中华 | 申请(专利权)人: | 重庆工商职业学院 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 汤东凤 |
地址: | 400039 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于图像处理的抛光表面检测方法,涉及图像处理领域,包括如下步骤:首先,采集包含目标物体表面的图像,将所述图像灰度化,并划分为若干区域,取各个所述区域的灰度平均值作为该区域像素点灰度值;然后,根据所述阈值区间Φi,替换原图像像素点的灰度为 |
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搜索关键词: | 一种 基于 图像 处理 抛光 表面 检测 方法 及其 系统 | ||
【主权项】:
1.一种基于图像处理的抛光表面检测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1、采集包含目标物体表面的原始图像;步骤S2、将所述原始图像灰度化,并将所述原始图像划分为若干区域;取各个所述区域的灰度平均值作为该区域像素点灰度值;步骤S3、设定I个灰度阈值区间Φi,将经步骤S2处理后图像的各像素点灰度分别替换为各个灰度阈值区间Φi对应的灰度设定值
其中,所述I为正整数,所述i满足1≤i≤I;步骤S4、采集经步骤S3处理后图像的横向像素灰度上升个数Hup、横向像素灰度下降个数Hdown;采集经步骤S3处理后图像的纵向像素灰度上升个数Zup、纵向像素灰度下降个数Zdown以及经步骤S3处理后图像像素总个数Sum;所述Sum为正整数;所述Hup、Hdown、Zup、Zdown为自然数;步骤S5、获取灰度平均波动幅值F,所述
所述Grayj为经步骤S3处理后图像的各像素点灰度值;所述
为经步骤S3处理后图像的平均灰度值;所述j满足1≤j≤Sum;步骤S6、获取像素灰度波动值E,若E>ETH,则发出声光报警;所述
所述ETH取值范围为0.01≤ETH≤10;所述ETH为像素灰度波动阈值。
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