[发明专利]一种基于图像处理的抛光表面检测方法及其系统有效

专利信息
申请号: 201610968488.6 申请日: 2016-10-28
公开(公告)号: CN106530291B 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 廖妍;朱中华 申请(专利权)人: 重庆工商职业学院
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 400039 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种基于图像处理的抛光表面检测方法,涉及图像处理领域,包括如下步骤:首先,采集包含目标物体表面的图像,将所述图像灰度化,并划分为若干区域,取各个所述区域的灰度平均值作为该区域像素点灰度值;然后,根据所述阈值区间Φi,替换原图像像素点的灰度为最后,采集图像灰度变化信息,获取像素灰度波动值,若波动值大于设定阈值,则标记所述工件抛光为不合格。此外,本发明还公开一种基于图像处理的抛光表面检测系统。本发明无需人工操作,与工业产线易于集成,节约人力成本,表面检测判定速度快,易于实现工业化。
搜索关键词: 一种 基于 图像 处理 抛光 表面 检测 方法 及其 系统
【主权项】:
1.一种基于图像处理的抛光表面检测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1、采集包含目标物体表面的原始图像;步骤S2、将所述原始图像灰度化,并将所述原始图像划分为若干区域;取各个所述区域的灰度平均值作为该区域像素点灰度值;步骤S3、设定I个灰度阈值区间Φi,将经步骤S2处理后图像的各像素点灰度分别替换为各个灰度阈值区间Φi对应的灰度设定值其中,所述I为正整数,所述i满足1≤i≤I;步骤S4、采集经步骤S3处理后图像的横向像素灰度上升个数Hup、横向像素灰度下降个数Hdown;采集经步骤S3处理后图像的纵向像素灰度上升个数Zup、纵向像素灰度下降个数Zdown以及经步骤S3处理后图像像素总个数Sum;所述Sum为正整数;所述Hup、Hdown、Zup、Zdown为自然数;步骤S5、获取灰度平均波动幅值F,所述所述Grayj为经步骤S3处理后图像的各像素点灰度值;所述为经步骤S3处理后图像的平均灰度值;所述j满足1≤j≤Sum;步骤S6、获取像素灰度波动值E,若E>ETH,则发出声光报警;所述所述ETH取值范围为0.01≤ETH≤10;所述ETH为像素灰度波动阈值。
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