[发明专利]用于阵列天线校准的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201610972415.4 申请日: 2016-10-28
公开(公告)号: CN107230842B 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 詹姆斯·B·韦斯特 申请(专利权)人: 罗克韦尔柯林斯公司
主分类号: H01Q21/00 分类号: H01Q21/00;H04B17/12
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 董巍;高伟
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种天线阵列系统可以包括天线元件阵列、布置在天线元件附近的近场探针(NFP)以及耦连至天线元件阵列和NFP的处理器。该处理器可以配置为当部署在操作平台上时将天线阵列系统从操作模式动态地切换至校准模式,并根据接收(RX)校准子模式或发射(TX)校准子模式校准天线元件阵列。在RX校准子模式中,处理器可以配置为调节与天线元件阵列中的至少一个接收天线元件相关联的至少一个信号接收参数。在TX校准子模式中,处理器可以配置为调节与天线元件阵列中的至少一个发射天线元件相关联的至少一个信号发射参数。
搜索关键词: 用于 阵列 天线 校准 系统 方法
【主权项】:
一种天线阵列系统,包括:天线元件阵列;布置在所述天线元件附近的至少一个近场探针(NFP),所述至少一个NFP配置为支持双极化;以及耦连至所述天线元件阵列和所述至少一个NFP的处理器,所述处理器配置为:当部署在操作平台上时,将所述天线阵列系统由操作模式动态地切换到校准模式;以及根据接收(RX)校准子模式和发射(TX)校准子模式中的至少一个来校准所述天线元件阵列,其中在RX校准子模式中,所述处理器配置为:使得所述至少一个NFP发射第一校准信号;响应于所述校准信号,从所述天线元件阵列接收第一接收(RX)信号;比较所述第一RX信号与第一参考信号;以及基于所述第一RX信号与所述第一参考信号的比较来调节与所述天线元件阵列中的至少一个天线元件相关联的至少一个信号接收参数,以及其中在TX校准子模式中,所述处理器配置为:使得所述天线元件阵列中的一个或多个天线元件发射第二校准信号;响应于所述第二校准信号,从所述至少一个NFP接收至少一个其他RX信号,所述至少一个其他RX信号中的每一个与各自的NFP相关联;比较所述至少一个其他RX信号中的每一个与第二参考信号,以及根据所述至少一个其他RX信号中的每一个与所述第二参考信号的比较来调节与所述一个或多个天线元件中的至少一个天线元件相关联的至少一个信号发射参数。
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