[发明专利]一种TFT基板上阵列检查测试方块的连接测试方法

摘要

本发明公开了一种TFT基板上阵列检查测试方块的连接测试方法，若给基板画素加电所需的信号通道数量不大于12个，将基板的测试方块以两个为一组连接起来；若所需的信号通道数量大于12但不大于20个，将位于首部的两个测试方块进行连接，同时连接尾部的两个测试方块。本发明对基板的测试方块进行了连接，在接触测试时只需测量连接的两个方块之间的电阻即可满足要求，降低了因某方块异常或产品G‑C间电阻异常问题导致的设备报警，提高设备稼动，进行加电测试时对于只存在某个方块区域存在异常的产品能通过另一测试方块进行正常的加电测试，不影响产品的判定以及后流。

主权项

一种TFT基板上阵列检查测试方块的连接测试方法，其特征在于：若给基板画素加电所需的信号通道数量不大于12个，将基板的测试方块以两个为一组连接起来；接触测试时，测量每组两个测试方块之间的电阻；加电测试时，每组两个测试方块同时给画素加电；若给基板画素加电所需的信号通道数量大于12但不大于20个，将位于首部的两个测试方块进行连接，同时连接尾部的两个测试方块；接触测试时，测量首尾两组中两个测试方块之间的电阻；加电测试时，每组两个测试方块同时给画素加电，未连接的测试方块单独对画素加电。