[发明专利]三探头密度测井的围岩校正方法及装置

摘要

本发明公开了一种三探头密度测井的围岩校正方法及装置。该方法包括：分析无泥饼和有泥饼条件下围岩对长、中、短三探测器密度的影响规律；根据密度测井仪器三探头测量的密度值大小，选择相对应情况下的围岩校正公式对测量的三个密度值分别进行围岩校正；由三个校正后的密度值得到仪器对地层测量密度值。本发明可以在不同的围岩厚度和有无泥饼的条件下校正围岩对地层密度测井的影响，从而得到更准确的地层密度测井值。

主权项

1.一种三探头密度测井的围岩校正方法，其特征在于，所述方法包括：分析无泥饼和有泥饼条件下围岩对长、中、短三探测器密度的影响规律；根据密度测井仪器三探头测量的密度值大小，选择相对应情况下的围岩校正公式对测量的三个密度值分别进行围岩校正；由三个校正后的密度值得到仪器对地层测量密度值；根据密度测井仪器三探头测量的密度值大小，选择相对应情况下的围岩校正公式对测量的三个密度值分别进行围岩校正，包括：获取无泥饼情况下的围岩校正公式；获取有泥饼情况下的围岩校正公式；利用获取围岩校正公式对测量的三个密度值分别进行围岩校正；获取无泥饼情况下的围岩校正公式，包括：当ρ_L＝ρ_M＝ρ_S时：三探头密度值均不需要围岩校正，地层密度值可以是三个探头任意一个探头密度值，也可以是三个探头两两补偿密度值或三个探头密度平均值；其中ρ_L、ρ_M、ρ_S分别为长、中、短探头按一般密度测井公式求取的密度值；当ρ_L<ρ_M<ρ_S时：中、长探测器的围岩校正公式为：ρ_b1＝ρ_ML+a₁Δρ_ML其中，ρ_b1是中、长探测器经过围岩校正后的密度值；ρ_ML为利用中探测器和长探测器进行补偿密度测量得到的密度值；Δρ_ML为利用中、长源距测量的密度值之差，即Δρ_ML＝ρ_M‑ρ_L；系数a₁可以由刻度的数据拟合得到；短、中探测器的围岩校正公式为：ρ_b2＝ρ_SM+a₂Δρ_SM其中，ρ_b1是短、中探测器经过围岩校正后的密度值；ρ_SM为利用短探测器和中探测器进行补偿密度测量得到的密度值；Δρ_SM为利用短、中源距测量的密度值之差，即Δρ_SM＝ρ_S‑ρ_M；系数a₂可以由刻度的数据拟合得到；短、长探测器的围岩校正公式为：ρ_b3＝ρ_SL+a₃Δρ_SL其中，ρ_b3是短、中探测器经过围岩校正后的密度值；ρ_SL为利用短探测器和中探测器进行补偿密度测量得到的密度值；Δρ_SL为利用短、中源距测量的密度值之差，即Δρ_SL＝ρ_S‑ρ_L；系数a₃可以由刻度的数据拟合得到；最终地层密度值可以是ρ_b1、ρ_b2、ρ_b3中的一个，也可以是三者中的平均值。