[发明专利]一种复合绝缘子内部缺陷检测方法有效
申请号: | 201610976452.2 | 申请日: | 2016-11-04 |
公开(公告)号: | CN106442716B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 孙文健;刘轩东;周军;邓桃 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学;中国电力科学研究院 |
主分类号: | G01N27/92 | 分类号: | G01N27/92 |
代理公司: | 北京鼎承知识产权代理有限公司 11551 | 代理人: | 张波涛;管莹 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本公开揭示了一种复合绝缘子内部缺陷检测方法,所述方法将复合绝缘子样品等效为一个“黑盒”,在通过外观无法直接获得其内部的缺陷信息时,如内部气孔、内部杂质、芯棒裂缝、芯棒与护套脱粘等,如通过与复合绝缘子样品相连的电极对复合绝缘子样品施加高频脉冲电压信号,并利用示波器等检测仪器获得相应缺陷的复合绝缘子样品的检测信号,通过对检测信号的进一步分析处理,获得其波形参数和图像数据库。建立检测信号‑典型缺陷类型的对应关系,并以此作为判断检测结果的参考标准。 | ||
搜索关键词: | 一种 复合 绝缘子 内部 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种复合绝缘子内部缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:S100、将复合绝缘子样品作为一个“黑盒”,对复合绝缘子样品施加高频脉冲电压;S200、利用示波器获得施加的高频脉冲电压信号在复合绝缘子上产生的检测信号;S300、将获得的检测信号的波形和复合绝缘子具体缺陷类型的波形相对应,建立检测信号和复合绝缘子具体缺陷类型的对应关系,进一步建立“检测信号‑缺陷类型”对照图表;S400、对待检测的复合绝缘子施加高频脉冲电压,得到检测信号波形,根据“检测信号‑缺陷类型”对照图表获得所述待检测的复合绝缘子的缺陷;所述方法还用于对步骤S100中高频脉冲电压进行优化,具体为:将步骤S200中的检测信号与正常复合绝缘子样品检测信号进行比较,获得所述检测信号的灵敏度,进而获得复合绝缘子各缺陷对应的较佳的高频脉冲电压;所述检测信号的灵敏度是指缺陷波形及幅频特性曲线与正常样品的波形和幅频特性曲线的区分度,当区分度最大时,选择此时使用的高频脉冲电压作为施加电压。
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