[发明专利]绝缘阻抗测量方法及绝缘阻抗测量设备

摘要

本发明公开了一种绝缘阻抗测量方法，包括：向待测设备输入周期为N*T的方波；在每半个周期的最后预置时长内采样绝缘阻抗测量设备内的测量电阻的电压值，且利用采样得到的电压值计算在周期为N*T时的绝缘阻抗；在N不等于1时，若在周期为N*T时的绝缘阻抗小于或等于已计算的在周期为(N‑1)*T时的绝缘阻抗，则将在周期为(N‑1)*T时的绝缘阻抗作为所述待测设备的绝缘阻抗；在N不等于1时，若在周期为N*T时的绝缘阻抗大于已计算的在周期为(N‑1)*T时的绝缘阻抗，则令N＝N+1，返回执行上述向该待测设备输入周期为N*T的方波的步骤。本发明还公开了一种绝缘阻抗测量装置，能够完全避免Y电容对绝缘阻抗的影响。

主权项

一种绝缘阻抗测量方法，其特征在于，所述方法包括：在绝缘阻抗测量设备与待测设备连接之后，向所述待测设备输入周期为N*T的方波，所述N为正整数且N的初始值为1，所述T为预置的周期；在每半个周期的最后预置时长内采样所述绝缘阻抗测量设备内的测量电阻的电压值，且利用采样得到的电压值计算在所述周期为N*T时的绝缘阻抗；在所述N等于1时，则令N＝N+1，返回执行所述向所述待测设备输入周期为N*T的方波的步骤；在所述N不等于1时，若在所述周期为N*T时的绝缘阻抗小于或等于已计算的在周期为(N‑1)*T时的绝缘阻抗，则将所述周期为(N‑1)*T时的绝缘阻抗作为所述待测设备的绝缘阻抗；在所述N不等于1时，若在所述周期为N*T时的绝缘阻抗大于已计算的在周期为(N‑1)*T时的绝缘阻抗，则令N＝N+1，返回执行所述向所述待测设备输入周期为N*T的方波的步骤。