[发明专利]一种测定硼同位素比值的方法在审
| 申请号： | 201610982287.1 | 申请日： | 2016-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN106442696A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 胡勇;郭冬发;范增伟;刘桂芳;谢胜凯 | 申请（专利权）人： | 核工业北京地质研究院 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京市盛峰律师事务所11337 | 代理人： | 于国富 |
| 地址： | 100029 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测定硼同位素比值的方法，涉及元素测试领域。所述方法包括：获取含硼样本的原始质谱图，然后采用主成分分析法去除异常样本，得到初始谱图；采用S‑G平滑滤波器对初始谱图进行平滑处理，得到平滑谱图；利用高斯线形函数对平滑谱图进行曲线拟合，得到硼各同位素的峰特征值；根据得到的硼各同位素的峰特征值计算硼同位素丰度。本发明所述方法将B10和B11重叠峰剥离开，去除相互干扰影响，实时计算出峰位点对应的峰高、峰面积等特征参数，有效提高硼同位素相对丰度的测定准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 同位素 比值 方法 | ||
【主权项】：
一种测定硼同位素比值的方法，其特征在于，所述方法包括：S1，获取含硼样本的原始质谱图，然后采用主成分分析法去除异常样本，得到初始谱图；S2，采用S‑G平滑滤波器对初始谱图进行平滑处理，得到平滑谱图；S3，利用高斯线形函数对平滑谱图进行曲线拟合，得到硼各同位素的峰特征值；S4，根据得到的硼各同位素的峰特征值计算硼同位素丰度。
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