[发明专利]一种气室核自旋弛豫测试装置有效

专利信息
申请号: 201610983411.6 申请日: 2016-11-09
公开(公告)号: CN108061547B 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 秦杰;高溥泽;刘建丰;王春娥;田晓倩 申请(专利权)人: 北京自动化控制设备研究所
主分类号: G01C19/60 分类号: G01C19/60
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高安娜
地址: 100074 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于原子传陀螺技术领域,具体公开了一种气室核自旋弛豫测试装置,包括固定加热结构、光学结构、三维磁线圈和磁屏蔽桶,所述的固定加热结构设于三维磁线圈的中心,所述的三维磁线圈固定设于磁屏蔽桶内,且三维磁线圈的中心与磁屏蔽桶的中心重合,光学结构设于固定加热结构上;该结构兼容不同大小和形状的气室进行测试,更换气室简便;通过高导热材料(氮化硼),使气室受热均匀,并使电加热片位置远离气室,从而使电加热对气室的干扰磁场大幅降低。
搜索关键词: 一种 气室核 自旋 测试 装置
【主权项】:
1.一种气室核自旋弛豫测试装置,其特征在于:包括固定加热结构(1)、光学结构(2)、三维磁线圈(3)和磁屏蔽桶(4),所述的固定加热结构(1)设于三维磁线圈3的中心,所述的三维磁线圈(3)固定设于磁屏蔽桶(4)内,且三维磁线圈(3)的中心与磁屏蔽桶(4)的中心重合,光学结构(2)设于固定加热结构(1)上;所述的固定加热结构(1)包括导热体(101)和设于导热体(101)外部的保温层(102),所述的导热体(101)包括内层导热体(104)和外层导热体(105),内层导热体(104)包括端塞(106)和内层导热主体(107),端塞(106)设于内层导热主体(107)上加工的孔内,所述的内层导热主体(107)内部放置气室,内层导热体(104)和外层导热体(105)的侧面均加工有位置对应的通光孔;保温层(102)设于外层导热体(105)的外部;所述的光学结构(2)包括托架(201)、反射镜组(202)、基座(203),所述托架(201)固定安装于基座(203)上,固定加热结构(1)底部与基座(203)固定连接,所述的托架(201)套装在固定加热结构(1)外,所述的反射镜组(202)有两组,分别设于托架(201)的两端,两端反射镜组(202)的光学中心与所述的通光孔中心的位于同一水平高度。
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