[发明专利]AlGaInP基发光二极管外延片、芯片及制备方法有效
申请号: | 201610985270.1 | 申请日: | 2016-10-25 |
公开(公告)号: | CN106384771B | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 邢振远;李彤;王世俊 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(浙江)有限公司 |
主分类号: | H01L33/30 | 分类号: | H01L33/30;H01L33/14;H01L33/12;H01L33/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
地址: | 322000 浙江省金华市义*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种AlGaInP基发光二极管外延片、芯片及制备方法,属于半导体技术领域。所述AlGaInP基发光二极管外延片包括GaAs衬底、以及依次层叠在所述GaAs衬底上的N型GaAs缓冲层、N型GaInP腐蚀停层、N+型GaAs欧姆接触层、N型电流扩展层、N型限制层、有源层、P型限制层、P型电流扩展层,所述AlGaInP基发光二极管外延片还包括层叠在所述N+型GaAs欧姆接触层和所述N型电流扩展层之间的N+型插入层,所述N+型插入层包括依次层叠在所述N+型GaAs欧姆接触层上的N+型GaInP层、N+型AlxGa1‑xInP层,0.3<x<0.6。本发明提高了反向抗静电能力。 | ||
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【主权项】:
1.一种AlGaInP基发光二极管外延片,所述AlGaInP基发光二极管外延片包括GaAs衬底、以及依次层叠在所述GaAs衬底上的N型GaAs缓冲层、N型GaInP腐蚀停层、N+型GaAs欧姆接触层、N型电流扩展层、N型限制层、有源层、P型限制层、P型电流扩展层,其特征在于,所述AlGaInP基发光二极管外延片还包括层叠在所述N+型GaAs欧姆接触层和所述N型电流扩展层之间的N+型插入层,所述N+型插入层包括依次层叠在所述N+型GaAs欧姆接触层上的N+型GaInP层、N+型AlxGa1‑xInP层,0.3<x<0.6。
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