[发明专利]一种测定氧化铝样品中杂质含量的方法及样品预处理方法有效
| 申请号： | 201610985522.0 | 申请日： | 2016-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN106568643B | 公开（公告）日： | 2020-11-13 |
| 发明（设计）人： | 舒众众;李青;李兆廷;石志强;李震;蔡军兴;魏文生;胡美红;孔秀梅;张桂龙;杨静怡 | 申请（专利权）人： | 芜湖东旭光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/44 | 分类号： | G01N1/44;G01N21/73 |
| 代理公司： | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人： | 耿超;王浩然 |
| 地址： | 241000 安徽省芜湖*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种测定氧化铝样品中杂质含量的方法及样品预处理方法，该样品预处理方法包括：使待测氧化铝样品与高氯酸和浓磷酸混合后加热溶解，得到待测溶液，其中，相对于1克的所述待测氧化铝样品，所述高氯酸的用量为12‑16毫升，所述浓磷酸的用量为70‑76毫升；该方法样品溶解完全，操作简便，可以避免在高压密闭处理条件中的过压和强酸泄漏的安全隐患。本公开还提供测定氧化铝样品中杂质含量的方法，该方法将Si元素和其他杂质元素分别单独采用等离子发射光谱检测仪测定，避免了Si元素和其余杂质元素的谱线干扰，提高了测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 氧化铝 样品 杂质 含量 方法 预处理 | ||
【主权项】：
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