[发明专利]一种地统计学模型计算城市降雨径流污染负荷的方法有效

专利信息
申请号: 201610986571.6 申请日: 2016-11-09
公开(公告)号: CN106570334B 公开(公告)日: 2021-12-28
发明(设计)人: 谢胜;吕永鹏;张辰;陈嫣;莫祖澜;尹冠霖 申请(专利权)人: 上海市政工程设计研究总院(集团)有限公司
主分类号: G06F17/18 分类号: G06F17/18
代理公司: 上海世圆知识产权代理有限公司 31320 代理人: 陈颖洁
地址: 200092 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种地统计学模型计算城市降雨径流污染负荷的方法。本方法公开了一种基于地理信息技术的计算城市降雨径流污染负荷的方法,它包括降雨径流污染信息采集;空间信息数据库建立;最优GIS模型构建和模型处理;路面(地面)径流污染负荷计算;区域径流污染负荷计算等步骤。本发明将GIS技术引入对降雨径流污染空间分布特征的分析,减少主观方法带来的失误;同时,采用GIS技术对降雨径流污染进行空间模拟和分析,是一种快速、精确的计算城市降雨径流污染负荷的方法,可供制定有效的降雨径流污染控制策略、实施污染控制措施、开展海绵城市建设提供科学指导。
搜索关键词: 种地 统计学 模型 计算 城市 降雨 径流 污染 负荷 方法
【主权项】:
一种地统计学模型计算城市降雨径流污染负荷的方法,其特征在于它包括以下具体步骤:A、降雨径流污染信息采集,对地表类不透水面和屋面类不透水面分别进行降雨采样,并获取采样点的GPS定位数据;;B、建立地表类不透水面的降雨径流污染属性数据库,通过采样点GPS定位数据录入基础地理信息数据库,将地面类不透水面采样点的SMC作为属性数据与相应的空间坐标进行关联,建立地表类不透水面的降雨径流污染属性数据库;C、最优GIS模型构建,进行空间模拟,对各地面类不透水面采样点的地理位置和SMC进行拟合分析,通过拟合分析选择最优半方差模型以及最优参数,并利用该最优半方差模型以及最优参数对各地面类不透水面采样点之间的位置进行SMC的插值计算;D、计算地面径流污染负荷LRd,输出根据步骤C得到的降雨径流污染插值图,将插值图栅格化后,根据栅格化的降雨径流污染插值图计算地面径流污染负荷LRd;E、计算屋面类不透水面的径流污染负荷LRf,将屋面类不透水面的降雨径流污染SMC进行加权平均,作为屋面类不透水面的统一SMC,根据所述统一SMC计算屋面类不透水面的径流污染负荷LRf;F、计算区域径流污染负荷L,L=LRd+LRf。
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