[发明专利]一种UV‑LED辐照元件温度场分析监控方法

摘要

一种UV辐照元件温度场分析监控方法，属于UV辐照元件温度监控技术领域。本发明为解决现有技术在对UV‑LED辐照元件产生热量不能准确进行分析监控，进而导致产生的热量影响紫外光源的问题。本发明包括步骤一、对UV‑LED辐照元件进行三维建模；步骤二、采用Ansys Workbench系统对UV‑LED辐照元件进行自动网格剖分；步骤三、对自动网格剖分后的UV‑LED辐照元件的温度场进行分析，确定UV‑LED辐照元件模型求解域的温度场；步骤四、获得UV‑LED辐照元件温度场分布云图；步骤五、验证采用ANSYS仿真方法获得UV‑LED辐照元件温度场的正确性与精确性。本发明通过ANSYS仿真软件对该装置进行温度场分析，为提高聚乙烯紫外光交联技术的发展奠定了基础，为以后紫外光辐照源的研究发展提供了参考数据。

主权项

一种UV辐照元件温度场分析监控方法，其特征在于包括以下步骤：第一步、在ANSYS软件系统中对UV‑LED辐照元件进行三维建模，获得UV‑LED辐照元件模型。第二步、将UV‑LED辐照元件导入到Ansys Workbench系统中，采用Ansys Workbench系统对UV‑LED辐照元件进行自动网格剖分。第三步、对自动网格剖分后的UV‑LED辐照元件的温度场进行分析，采用热力学微分方程和热力学微分方程边界条件，确定UV‑LED辐照元件模型求解域的温度场。第四步、根据热力学微分方程和热力学微分方程边界条件设置UV‑LED辐照元件模型的初始边界条件和组成UV‑LED辐照元件的发光二极管LED热损耗值，进行仿真，获得UV‑LED辐照元件温度场分布云图。第五步、验证采用ANSYS仿真方法获得UV‑LED辐照元件温度场的正确性与精确性。