[发明专利]基于光影的平面凸点高度测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 201610991167.8 申请日: 2016-11-10
公开(公告)号: CN106500604A 公开(公告)日: 2017-03-15
发明(设计)人: 张武 申请(专利权)人: 西安科技大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 西安佩腾特知识产权代理事务所(普通合伙)61226 代理人: 张倩
地址: 710054 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种基于光影的平面凸点高度测量装置及方法,该测量装置包括激光准直镜以及接收板;表面含有凸点的待测平面置于激光准直镜与接收板之间;激光准直镜、表面含有凸点的待测平面以及接收板处于同一平面上,使激光准直镜所发射的激光束与待测平面基准面的上表面平行且相切,采集凸点距离准直镜的距离L1以及凸点距离接收板的距离L2,以基准面为下止点,利用下式(1)进行计算,从而确定平面上的凸点高度,本发明适用于待测平面不能移动,且待测平面与水平面和竖直面成任意夹角,待测平面尺寸较大时的规则和不规则凸点高度的测量,测量方向不受约束,灵活度高,而且利用光影测量,不受温度、湿度等环境的影响,测量可靠性高,稳定性好。
搜索关键词: 基于 光影 平面 高度 测量 装置 方法
【主权项】:
一种基于光影的平面凸点高度测量装置,其特征在于:所述基于光影的平面凸点高度测量装置包括激光准直镜(1)以及接收板(2);表面含有凸点(3‑2)的待测平面(3)置于激光准直镜(1)与接收板(2)之间;所述激光准直镜(1)、表面含有凸点(3‑2)的待测平面(3)以及接收板(2)处于同一平面上。
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