[发明专利]一种基于多光谱图像信息融合的绝缘子污秽状态检测方法在审
| 申请号： | 201611004199.0 | 申请日： | 2016-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN106596579A | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 金立军;艾建勇;田治仁 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | G01N21/94 | 分类号： | G01N21/94;G06T7/00 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司31225 | 代理人： | 赵继明 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及基于多光谱图像信息融合的绝缘子污秽状态检测方法，该方法包括以下步骤，同时通过可见光图像、红外图像、紫外图像三种光谱图像对绝缘子污秽状态进行检测；根据所得的三种光谱图像通过信息融合，综合评价绝缘子污秽状态。与现有技术相比，本发明具有三种图像检测方法互不干扰，检测准确率高，非接触式，带电检测，检测速度快，检测结果的可靠性高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光谱 图像 信息 融合 绝缘子 污秽 状态 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于多光谱图像信息融合的绝缘子污秽状态检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：S1、同时通过可见光图像、红外图像、紫外图像三种光谱图像对绝缘子污秽状态进行检测；S2、根据S1中所得的三种光谱图像通过信息融合，综合评价绝缘子污秽状态。
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