[发明专利]一种建立钽电容的分数阶电路模型的方法有效
申请号: | 201611006422.5 | 申请日: | 2016-11-16 |
公开(公告)号: | CN106503394B | 公开(公告)日: | 2019-05-14 |
发明(设计)人: | 陈艳峰;陈海锋;张波 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 罗观祥 |
地址: | 511458 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种建立钽电容的分数阶电路模型的方法,包括步骤:1)将传统钽电容模型的主电容C认为具有分数阶特性,设其阻抗为其中α为电容的阶数,0﹤α﹤1;2)考虑电容C的分数阶特性,列写出电路模型的阻抗幅值和寄生电阻(ESR)的表达式;3)采用电容实测的阻抗幅值曲线,使用步骤2)得到的寄生电阻和阻抗表达式,利用最小二乘法进行拟合,确定表达式内各个参数,由于钽电容的分数阶电路模型中的所有参数已确定,故钽电容的分数阶模型已成功建立。本发明方法可以用于预测钽电容的ESR和阻抗幅值。 | ||
搜索关键词: | 一种 建立 钽电容 分数 电路 模型 方法 | ||
【主权项】:
1.一种建立钽电容的分数阶电路模型的方法,其特征在于,包括以下步骤:1)将传统钽电容模型的主电容C认为具有分数阶特性,设其阻抗为式中α为电容的阶数,0﹤α﹤1;其中,传统钽电容模型由串联电感L、串联电阻Rs、电容C、介电吸收电容Cd、介电损耗电阻Rd组成,该串联电感L、串联电阻Rs、电容C依次串联在一起,该介电吸收电容Cd和介电损耗电阻Rd串联后并联在电容C上;2)考虑电容C的分数阶特性,列写出电路模型的阻抗幅值和寄生电阻ESR的表达式;寄生电阻ESR的表达式如下:阻抗虚部的表达式如下:阻抗幅值为:3)采用电容实测的阻抗幅值曲线,使用步骤2)得到的寄生电阻和阻抗表达式,利用最小二乘法进行拟合,确定表达式内各个参数,由于钽电容的分数阶电路模型中的所有参数已确定,故钽电容的分数阶模型已成功建立。
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