[发明专利]半导体激光器光源体最佳温度检测装置

摘要

本发明提供了一种半导体激光器光源体最佳温度检测装置，其特征在于：包括光源体，内含有现有激光器中的发光体，放置于安装盒内；主控制模块，包括设置于安装盒内部的功率晶体管和用于检测光源体温度的温度传感器；辅助控制模块，包括设置于安装盒底部的黄铜底座，黄铜底座上设置有用于检测光源体温度的热敏电阻；光检测模块，用于对激光器输出的主光进行强度检测，获得光强信号激光器模块，接收来自中央处理器的命令根据其控制激光器输出主光；中央处理器，发送纠偏电压信号至激光器模块，接收来自光检测模块的光强信号和来自温度传感器及热敏电阻的温度信号。本发明有效实现对光源体的多层温控，同时保证控温温度选择达到最佳效果。

主权项

1.一种半导体激光器光源体最佳温度检测装置，其特征在于：它包括光源体，内含有现有激光器中的发光体，放置于安装盒内；主控制模块，包括设置于安装盒内部的功率晶体管和用于检测光源体温度的温度传感器，通过温度传感器的输出电压与主控制模块内部设定电压值的比较结果，控制功率晶体管的开关状态实现对发光体的主导温控作用；辅助控制模块，包括设置于安装盒底部的黄铜底座，黄铜底座上设置有用于检测光源体温度的热敏电阻，通过热敏电阻阻值与控辅助控制模块设定电阻阻值的比较结果，控制黄铜底座半导体制冷片通电状态实现对光源体的辅助温控作用；光检测模块，用于对激光器输出的主光进行强度检测，获得光强信号；激光器模块，接收来自中央处理器的命令根据其控制激光器输出主光；稳频模块，接收来自光检测模块的光强信号处理后反馈至激光器模块，实现对激光器输出主光的稳频；中央处理器，发送纠偏电压信号至激光器模块，接收来自光检测模块的光强信号和来自温度传感器及热敏电阻的温度信号，通过分析处理纠偏电压信号、光强信号和温度信号确定光源体的控温温度，并根据控温温度调整主控制模块的内部设定电压值和辅助控制模块的设定电阻值。