[发明专利]一种三维立体光谱成像系统有效

专利信息
申请号: 201611008548.6 申请日: 2016-11-16
公开(公告)号: CN106644074B 公开(公告)日: 2019-01-18
发明(设计)人: 魏立冬;景娟娟;周锦松;王欣;冯蕾;李雅灿;付锡禄;何小英;张桂峰;卜美侠 申请(专利权)人: 中国科学院光电研究院
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/42;G01J3/02;G01B11/00;G01B11/24
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;陈亮
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种三维立体光谱成像系统,所述系统包括前置镜、狭缝和光谱仪,所述前置镜包括正视前置镜、第一斜视前置镜和第二斜视前置镜,且三个前置镜共用一个光谱仪和探测器,第一斜视前置镜和第二斜视前置镜与所述正视前置镜存在27°夹角;所述前置镜将远处目标成像到一次像面的狭缝上,在狭缝板上形成三条平行的狭缝;目标图像发出的光束由三条狭缝进入光谱仪后,三束光经过第一个曲面棱镜进行第一次色散,然后经过三个反射镜反射后再次入射到第二个曲面棱镜,进行第二次色散,再经过所述离轴校正镜校正后,最终被探测器阵列接收。上述系统能够同时获取探测目标的三维空间信息及光谱信息,并有效降低系统整体的复杂程度和研制成本。
搜索关键词: 前置镜 狭缝 斜视 光谱仪 光谱成像系统 曲面棱镜 三维立体 三维空间信息 有效降低系统 反射镜反射 探测器阵列 光谱信息 目标成像 目标图像 探测目标 正视 狭缝板 校正镜 探测器 离轴 入射 色散 校正 平行
【主权项】:
1.一种三维立体光谱成像系统,其特征在于,所述系统包括前置镜、狭缝和光谱仪,其中:所述前置镜包括正视前置镜、第一斜视前置镜和第二斜视前置镜,且三个前置镜共用一个光谱仪和探测器,其中:所述第一斜视前置镜和所述第二斜视前置镜与所述正视前置镜存在27°夹角;所述正视前置镜用于垂直对地成像,产生正视图;所述第一斜视前置镜用于向前倾斜成像,产生前视图;所述第二斜视前置镜用于向后倾斜成像,产生后视图;所述前置镜将远处目标成像到一次像面的狭缝上,在狭缝板上形成三条平行的狭缝;所述光谱仪包括两个曲面棱镜、三个反射镜和离轴校正镜,其中:目标图像发出的光束由三条狭缝进入所述光谱仪后,三束光经过第一个曲面棱镜进行第一次色散,然后经过三个反射镜反射后再次入射到第二个曲面棱镜,进行第二次色散,再经过所述离轴校正镜校正后,最终被探测器阵列接收;所述探测器阵列的行像元接收所述目标图像的空间信息,列像元接收所述目标图像的三组光谱信息;进一步,所述系统还包括两块平面反射镜,用于将两块斜视前置镜的光路进行折转,使各视场主光线垂直于所述狭缝入射;其中,在所述平面反射镜的对应狭缝的光线特定区域镀制高反射膜层,且所述平面反射镜的其他位置及背面做消光处理。
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