[发明专利]一种霍尔器件测试夹及其操作方法

摘要

本发明公开了一种霍尔器件测试夹及其操作方法，属于芯片测试技术领域。本发明的测试夹，包括固定夹、连接杆和基座，还包括活动夹；所述固定夹和活动夹通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节；固定夹的底部固定有连接杆；所述连接杆的正下方，设置有圆形凹槽的基座，连接杆和圆形凹槽上下间隙配合，并在圆形凹槽内上下运动，通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节，实现了测试夹口可根据晶体管封装体的尺寸进行适应性调节，进而达到将晶体管封装体准确定位的目的，将封装体在测试夹内进行定位调整后，也避免了测试完成后转移到副盘时的叠料现象。

主权项

一种霍尔器件测试夹，包括固定夹(1)、连接杆(5)和基座(10)，其特征在于，还包括活动夹(2)；所述固定夹(1)和活动夹(2)通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹(2)相对于固定夹(1)的旋转实现两者之间夹口(111)的宽度调节；固定夹(1)的底部固定有连接杆(5)；所述连接杆(5)的正下方，设置有圆形凹槽(101)的基座(10)，连接杆(9)和圆形凹槽(101)上下间隙配合，并在圆形凹槽(101)内上下运动。