[发明专利]一种二氧化硫含量化学传感器和光谱仪相互校验的方法在审

专利信息
申请号: 201611020500.7 申请日: 2016-11-18
公开(公告)号: CN108072623A 公开(公告)日: 2018-05-25
发明(设计)人: 王斌;徐晓轩 申请(专利权)人: 天津邦纳科技有限公司
主分类号: G01N21/3504 分类号: G01N21/3504
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300350 天津市津南区北闸口镇*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种二氧化硫含量化学传感器和光谱仪相互校验的方法,包括以下步骤:对二氧化硫含量化学传感器进行零点调整和灵敏度调整,调整后的二氧化硫含量化学传感器对待测气体进行测定,得到测定结果;用光谱仪对该待测气体进行测定,和二氧化硫传感器测定结果进行对比,得到校正系数k1;对光谱仪波数准确度和分辨率进行校正,用校正后的光谱仪对待测气体进行测定,得到测定结果,用二氧化硫传感器对该待测气体进行测定,测定结果与光谱仪测定结果进行对比,得到校准系数k2,k1和k2进行对比,完成校准。本发明的有益效果是能够有效的避免二氧化硫传感器的零点漂移和灵敏度造成的误差,二者互相校验,使得测定的结果定性定量分析更准确。
搜索关键词: 光谱仪 化学传感器 二氧化硫 二氧化硫传感器 校验 待测气体 校正 灵敏度调整 定量分析 零点调整 零点漂移 校正系数 校准系数 准确度 灵敏度 校准 分辨率 波数 定性
【主权项】:
1.一种二氧化硫含量化学传感器和光谱仪相互校验的方法,包括三个步骤,第一步骤:校准第一二氧化硫传感器,以第一二氧化硫传感器为基础校准第一光谱仪,得到校准系数k1;第二步骤:校准第二光谱仪,以第二光谱仪为基础校准第二二氧化硫传感器,得到校准系数k2;第三步骤:将两个校准系数进行比对,确定最佳校准条件。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津邦纳科技有限公司,未经天津邦纳科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611020500.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top