[发明专利]基于空气缺陷的镜像对称光子晶体滤波器在审
申请号: | 201611020525.7 | 申请日: | 2016-11-21 |
公开(公告)号: | CN106371171A | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
发明(设计)人: | 张明达;余春燕;赵晓丹;温建华;陈智辉;刘欣;费宏明;杨毅彪 | 申请(专利权)人: | 太原理工大学 |
主分类号: | G02B6/122 | 分类号: | G02B6/122 |
代理公司: | 太原市科瑞达专利代理有限公司14101 | 代理人: | 李富元 |
地址: | 030024 山西*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | 本发明涉及一种光子晶体滤波器,特别是涉及一种一维光子晶体双通道或者多通道可调谐滤波器,属于光电通讯领域中的密集波分复用技术应用领域。基于空气缺陷的镜像对称光子晶体滤波器,其特征在于该滤波器的结构为 (H/L)N/D/(A/D/A)M/D/(L/H)N,其中H为Si,厚度dH=111nm,L为SiO2,厚度dL=265nm,A为Si厚度dA=3dH=333nm,D代表是空气缺陷层即空气层,厚度d可在359nm~394nm之间根据需要调整,M与N分别代表结构的周期数,N为大于等于4小于等于6的自然数,M为大于等于1小于等于5的自然数。 | ||
搜索关键词: | 基于 空气 缺陷 对称 光子 晶体滤波器 | ||
【主权项】:
基于空气缺陷的镜像对称光子晶体滤波器,其特征在于:该滤波器的结构为 (H/L)N/D/(A/D/A)M/D/(L/H)N,其中H为Si, 厚度dH=111nm,L为SiO2,厚度dL=265nm,A为Si厚度dA=3dH=333nm,D代表是空气缺陷层即空气层,厚度d可在359nm~394nm之间根据需要调整,M与N分别代表结构的周期数,N为大于等于4小于等于6的自然数,M为大于等于1小于等于5的自然数。
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