[发明专利]一种基于偏最小二乘回归模型的无机荧光粉检测方法

摘要

本发明公开了一种基于偏最小二乘回归模型的无机荧光粉检测方法,包括无机荧光粉和纯聚乙烯干燥步骤、定量混合步骤、研磨步骤、压片步骤、采用透射式太赫兹时域光谱仪扫描检测样品得到太赫兹时域光谱步骤、建立偏最小二乘回归模型步骤和计算最佳主成分数步骤，利用物质的THz光谱具有唯一性和特征性,采用THz‑TDS技术对荧光粉做到无损检测，对材料结构和物理性能没有影响的前提下，快速有效区分其内部细微结构的不同，检测区分不同厂家不同品牌的荧光粉，提高了检测方法的可靠性，能进一步推动THz光谱技术的应用和研究。

主权项

一种基于偏最小二乘回归模型的无机荧光粉检测方法,其特征在于包括如下步骤：(1)、将无机荧光粉和纯聚乙烯置于40℃干燥箱中干燥一小时；(2)、取出干燥后的无机荧光粉和纯聚乙烯，并在带防风罩的精密天平上测量两者的质量，配置n种不同比例的无机荧光粉和纯聚乙烯的混合粉末；（3）、采用玛瑙研钵对n种混合粉末分别进行研磨，使混合粉末的粒径为0.1mm以下；（4）、将研磨后的混合粉末放入压片机，制得高度为3±0.2mm、直径为13±0.2mm的圆柱形薄片检测样品，并将检测样品保存在真空容器中保存待用；（5）、保持室温在24℃，湿度在4.0%以下，采用透射式太赫兹时域光谱仪分别扫描n种检测样品得到n种检测样品的太赫兹时域光谱；太赫兹时域光谱仪的扫描频率为0.6—3THz，扫描时间间隔为0.02ps，分辨率为0.0075THz，波数精度为0.0023THz，采样速度为30次/秒，入射功率为80mW；（6）、建立偏最小二乘回归模型，公式如下：其中，代表的偏最小二乘回归的主成分个数；第个函数矩阵；和代表第个回归系数矩阵；代表的残差矩阵；代表的是的残差矩阵；Y是含量矩阵；X是个样中p个频点对应的吸收系数矩阵；（7）、去除假设的个样品中的一个，然后使用剩余的样品建立1主成分的偏最小二乘回归模型，然后使用上述模型计算出剔除样品的预测值，接着依次改变被剔除的样品，通过计算的到个预测值，最后通过如下公式计算预测误差：紧接着，改变主成分数，计算2主成分偏最小二乘回归模型中的，然后依次增加主分数，重复以上步骤计算的值，当预测误差产生极小值时，该主成分数即为最佳主成分数。