[发明专利]发射机ALC设计通用试验平台及试验方法

摘要

本发明提供发射机ALC设计通用试验平台，包含前级耦合器、射频开关、数控衰减器、模拟衰减器、驱动放大器、末级功率放大器、后级功率耦合器、低通滤波器、前级芯片检波器、后级芯片检波器、环路控制电路、模拟单刀双掷开关、MCU微处理器、I2C存储器。本专利试验平台应用性较强，可以为发射机提供三种典型的ALC控制方式，实现预存储式数字ALC控制、模拟闭环调制式ALC控制、数字模拟组合控制的ALC控制方式，不同的控制方式可以实现高线性度控制、高速模拟控制、高可靠性控制的目的。根据不同的需求，修改部分电路，以达到突出某些指标的特性，为最终产品提供方案支持。

主权项

一种发射机ALC设计通用试验平台，其特征在于：包括前级耦合器、射频开关、数控衰减器、模拟衰减器、驱动放大器、末级功率放大器、后级功率耦合器、低通滤波器、前级芯片检波器、后级芯片检波器、环路控制电路、模拟单刀双掷开关、MCU微处理器、I2C存储器；所述前级耦合器的输入端口连接前级输入信号，输出端口连接射频开关的输入端口，射频开关的输出端口连接数控衰减器的输入端口，数控衰减器的输出端口连接模拟衰减器的输入端口，模拟衰减器的输出端口连接驱动放大器的输入端口，驱动放大器的输出端口连接末级功率放大器的输入端口，末级功率放大器的输出端口连接后级功率耦合器的输入端口，后级功率耦合器的输出端口连接低通滤波器的输入端口，低通滤波器的输出端口输出信号；所述前级芯片检波器的输入端口连接前级耦合器的耦合端口，输出端口连接MCU微处理器AD采样端口；MCU微处理器的SPI接口连接至数控衰减器，I2C存储器与MCU微处理器通过I2C总线互连；所述后级芯片检波器的输入端口连接后级功率耦合器的耦合端口，输出端口连接环路控制电路的输入端口，环路控制电路的输出端口通过模拟开关连接至模拟衰减器控制端，MCU微处理器的DA输出端口也通过模拟开关连接到模拟衰减器控制端，同时环路控制电路连接MCU微处理器的AD采样端口。