[发明专利]一种基于太赫兹时域光谱技术测量胶囊壳体厚度的方法

摘要

本发明公开了一种基于太赫兹时域光谱技术测量胶囊壳体厚度的方法，包括以下步骤建立胶囊壳体厚度测量模型；当待测的胶囊壳体的折射率已知时，则不再进行待测的胶囊壳体的折射率的测试，否则，进行待测的胶囊壳体的折射率的测试；测量待测样品的胶囊壳体的上下表面反射峰的延迟时间差Δt；根据建立胶囊壳体厚度测量模型计算待测样品的胶囊壳体厚度。本发明的方法在不破坏和不接触胶囊壳情况下，高精度测试出胶囊壳体的厚度。为实现胶囊壳体质量的在线监控及管理提供技术支持，更好的服务医药质检行业。

主权项

一种基于太赫兹时域光谱技术测量胶囊壳体厚度的方法，其特征是，包括以下步骤：建立胶囊壳体厚度测量模型：当太赫兹波垂直入射至胶囊壳体表面时，胶囊壳体几何厚度d与胶囊壳体的上下表面反射峰的延迟时间差Δt之间的关系符合下述方程：和可推导出：其中，v是太赫兹波在胶囊壳体中传播速度，n是胶囊壳体的折射率，c是真空中的光速；当待测的胶囊壳体的折射率已知时，则不再进行待测的胶囊壳体的折射率的测试，否则，进行待测的胶囊壳体的折射率的测试；测量待测样品的胶囊壳体的上下表面反射峰的延迟时间差Δt；根据建立胶囊壳体厚度测量模型计算待测样品的胶囊壳体厚度。