[发明专利]一种手机故障测量方法在审

专利信息
申请号: 201611025242.1 申请日: 2016-11-16
公开(公告)号: CN106572224A 公开(公告)日: 2017-04-19
发明(设计)人: 侯海亭 申请(专利权)人: 侯海亭
主分类号: H04M1/24 分类号: H04M1/24
代理公司: 北京酷爱智慧知识产权代理有限公司11514 代理人: 赵永辉
地址: 250011 山东省济南市*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供了一种手机故障测量方法,方案为将被测的手机断电,获得被测手机的主板电路;将数字万用表调节到二极管档,将数字万用表的黑表笔连接被测手机的主板电路上的被测点,将数字万用表的红表笔接地,通过二极管档电路进行被测点电路的检测,获得测量二极体值,测量二极体值为所述数字万用表测得的数值;将测量二极体值与被测点电路的正常二极体值作比较,判定被测点的故障状态,实现对被测手机的主板电路的故障测量。本发明的手机故障测量方法,采用了万用表中的二极管档电路可提供足够大的电流进行手机故障点的检测,提高了手机故障点检测的准确性,并且不需要拆卸主板电路中的电子元件进行故障检测,延长了手机主板的使用寿命。
搜索关键词: 一种 手机 故障 测量方法
【主权项】:
一种手机故障测量方法,其特征在于,包括:步骤S1,将被测的手机断电,获得所述被测手机的主板电路;步骤S2,将数字万用表调节到二极管档,将所述数字万用表的黑表笔连接所述被测手机的主板电路上的被测点,将所述数字万用表的红表笔接地,通过二极管档电路进行所述被测点电路的检测,获得测量二极体值,所述测量二极体值为所述数字万用表测得的数值;步骤S3,将所述测量二极体值与所述被测点电路的正常二极体值作比较,判定所述被测点的故障状态,实现对所述被测手机的主板电路的故障测量:当所述测量二极体值不在所述正常二极体值范围内,判定所述被测点电路存在故障;当所述测量二极体值在所述正常二极体值范围内,判定所述被测点电路不存在故障。
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