[发明专利]半导体结构及其形成方法在审

专利信息
申请号: 201611027439.9 申请日: 2016-11-18
公开(公告)号: CN107039483A 公开(公告)日: 2017-08-11
发明(设计)人: 庄学理;廖均恒 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/22 分类号: H01L27/22
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 代理人: 章社杲,李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明的实施例提供了一种半导体结构,包括逻辑区域和邻近逻辑区域的存储区域。存储区域包括第N金属层的第一第N金属线、位于第一第N金属线上方的磁性隧道结(MTJ)和第(N+1)金属层的第一第(N+1)金属通孔,第一第(N+1)金属通孔设置在MTJ层上方。N为大于或等于1的整数。本发明的实施例还提供了一种用于制造半导体结构的方法。
搜索关键词: 半导体 结构 及其 形成 方法
【主权项】:
一种半导体结构,包括:逻辑区域;存储区域,邻近所述逻辑区域,所述存储区域包括:第N金属层的第一第N金属线;磁性隧道结,位于第一第N金属线上方;以及第(N+1)金属层的第一第(N+1)金属通孔,所述第一第(N+1)金属通孔设置在所述磁性隧道结上方,其中,N为大于或等于1的整数。
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