[发明专利]一种X射线能谱成像方法有效
| 申请号： | 201611027476.X | 申请日： | 2016-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN106483152B | 公开（公告）日： | 2019-10-22 |
| 发明（设计）人： | 刘宾;魏交统;韩焱;王黎明;陈平;潘晋孝;苏新彦 | 申请（专利权）人： | 中北大学 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 牛峥;王丽琴 |
| 地址： | 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线能谱成像方法，以X射线能谱合成技术为基础，实现多个能量区域具有窄带能谱的X射线，对检测物体进行透照，得到不同能量区域对应的透照图像，完成X射线能谱成像。由于本发明实施例在以X射线能谱合成技术时，X射线出束设备只是通过不同的滤波参数及不同的出束管电压实现，从而对设备的工艺要求不高，实现简单，易于应用推广。且由于得到的X射线都是不同能量区域的且具有窄带能谱，在后续成像时效果很好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 成像 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线能谱成像的方法，其特征在于，包括：划分X射线能量区域，产生不同能量区域的X子射线序列；对于每个能量区域的X子射线序列对应的激励时长进行组合，得到每个能量区域具有窄带分布特征的X射线；将每个能量区域具有窄带分布特征的X射线进行线束强度均衡及能谱的重叠，得到每个能量区域具有窄带能谱的X射线；采用设定能量区域具有窄带能谱的X射线对检测物体进行透照，得到检测物体的X射线成像；所述得到每个能量区域具有窄带分布特征的X射线为：采用所述X子射线序列的子谱的分布函数加权求和得到每个能量区域具有窄带分布特征的X射线。
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