[发明专利]光纤劣化分析方法在审
申请号: | 201611028578.3 | 申请日: | 2016-11-22 |
公开(公告)号: | CN106559132A | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | 勾俊伟;张利明;孙庆春 | 申请(专利权)人: | 国网山西省电力公司忻州供电公司 |
主分类号: | H04B10/071 | 分类号: | H04B10/071 |
代理公司: | 太原科卫专利事务所(普通合伙)14100 | 代理人: | 朱源 |
地址: | 034000 *** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | 本发明涉及光纤事件的识别方法,具体为光纤劣化分析方法。本光纤劣化分析方法先用OTDR得到测试曲线并取非反射事件曲线,对非反射事件曲线作差分运算并进行偏移修正,得到差分变换偏移修正曲线,利用统计检测准则,对光纤线路统计差分变换偏移修正曲线峰谷幅度,针对修正曲线设定阈值,得到噪声与阈值对应表,对差分变换偏移修正曲线进行还原,曲线上小于阈值的峰谷点对应的采样点为非反射事件起点,该点后一个脉宽点对应非反射事件终点,计算每个非反射点的损耗值和位置值,存入事件分析库。该算法对不同统计特性的光纤具有自适应性,能检测到微小幅度的非反射事件,与传统的OTDR非反射事件检测算法相比,该算法提高了判断非反射事件的准确性。 | ||
搜索关键词: | 光纤 化分 方法 | ||
【主权项】:
光纤劣化分析方法,其特征在于包括以下步骤:(1)OTDR对光纤线路发出测试光,接收返回的散射光,将返回散射光采样,并按时序绘制成测试曲线;(2)OTDR上位机获得测试曲线后,采用最小二乘法和两点法分析出头端事件、终端事件和反射事件;(3)在测试曲线上在头端事件和终端事件之间,取若干段连续的非反射事件曲线,对每段曲线按以下规则进行区域分割:(1)设定区域间隔为N,间隔N使曲线分区个数为5~10,(2)任意一个区域包含采样点数大于N,则按间隔N继续进行二次分割,分区结束后,计算每个区域的噪声水平;(4)区域噪声计算完成后,对各段非反射事件曲线作差分运算并进行偏移修正,得到差分变换偏移修正曲线;(5)利用统计检测准则,对大量光纤线路统计差分变换偏移修正曲线峰谷幅度,针对差分变换偏移修正曲线设定阈值,得到噪声与阈值对应表;(6)对差分变换偏移修正曲线进行还原,还原后从第一个区域开始,将非反射事件曲线中分割的区域按长度与差分变换偏移修正曲线相应点一一对应,查找噪声与阈值对应表得到区域阈值,在该区域内,小于阈值的峰谷点对应的采样点为非反射事件起点,该点后一个脉宽点对应非反射事件终点;(7)匹配结束,检测到所有的非反射点,计算每个非反射点的损耗值和位置值,存入事件分析库。
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