[发明专利]一种叶面积测量方法

摘要

本发明公开了一种叶面积测量方法，包括叶片图像获取：设置参照挡板，通过激光笔定位让摄像头镜头与参照挡板平行，保证叶面不变形；叶面积解析：截取有效图像，根据绿色叶面的三基色组成原理将图像二值化并去噪，得到有效叶面积的像素点；叶面积计算：根据步骤(2)得到的像素点，计算叶面积。本发明操作快捷实用，设备成本低，测量精度高。

主权项

1.一种叶面积测量方法，其特征在于，包括：(1)叶片图像获取：设置参照挡板，通过激光笔定位让摄像头镜头与参照挡板平行，保证叶面不变形；(2)叶面积解析：截取有效图像，根据绿色叶面的三基色组成原理将图像二值化并去噪，得到有效叶面积的像素点；(3)叶面积计算：根据步骤(2)得到的像素点，计算叶面积；步骤(1)的具体步骤为：(101)采用一个在其上面平铺固定坐标纸的硬挡板一块，作为参照挡板；(102)采用一个固定有若干只激光笔的固定架，在参照挡板上设置若干参考框，所述参考框与激光笔的射线落点位置一一对应；(103)将固定架固定在摄像装置上，使激光笔射线均与镜头垂直；(104)将叶片置于参照挡板坐标纸范围内并压平；(105)根据所需要的叶面积精度对摄像装置的分辨率进行设置；(106)图像采集时开启激光笔，所有激光笔在参照挡板上的射点均一一对应在参考框内，保证参照挡板与镜头平行，进行拍照；步骤(2)所述二值化的具体步骤为：(201)遍历所截取的有效图像每一个像素点(R,G,B)，获得当前像素值；(202)判断每一个像素点色彩R、G、B三基色DN值的范围是否符合植被规律，如果符合RGB基色为黑色(0,0,0)，否则为白色(255,255,255)；所述植被规律判断公式如下：步骤(2)所述去噪的具体步骤为：(211)设计3*3矩阵，遍历二值化图像中的每一像素点(R,G,B)；(212)如果某个像素点(R,G，B)为(0，0，0)，则查看其周边8个点是否有6个像素点(R,G，B)为(255,255,255)；(213)如果是则该像素点视为噪点去除，即设置该像素点(R,G，B)为(255，255，255)；(214)如果否则视该像素点为有效叶面积的像素点；步骤(3)所述叶面积计算的具体步骤为：(301)遍历所截取的有效图像的像素点，得到图像总的像素点数Ny；(302)根据坐标纸坐标计算有效图像的面积Sy；(303)根据步骤(2)得到的有效叶面积的像素点数Nx，计算叶面积S；